1 前言 　　集成电路测试机的种类,若依照其测试功能一般可区分为Logic测试机，Memory测试机及Mixed-signal测试机三大类。其中Logic测试机应用于一般消费性IC，如Voice，MCU IC等测试使用，Memory测试机应用于DRAM，Flash，SRAM等IC测试使用，而Mixed-signed测试机，则应用于Mixed-Signal IC测试，如Vedio，SoC IC等测试使用。 　　虽然不同种类的IC测试机使用于不同类型的IC测试使用，但其最基本的测试功能及原理实际上差