由于大型电子设备在进行电磁兼容(EMC)性考核时，很难进入屏蔽室进行而只能在室外开阔场地进行，从而难以控制测试时的环境背景噪声电平，使测试结果出现很大误差。如何区分背景噪声信号，鉴别出受试设备发出的被测信号一直是EMC测试中的一个难题。在各种不同的背景信号中，同频干扰与被测信号无法通过频谱进行分离，本文的目的就是想用空间分离技术，通过适当的测试方法，对于任意方向的同频干扰信号进行有效的拟制，从而得到有效的测试结果。