储存环中单个离子的旋转频率测量需要复杂的定时检测器。 这种检测器的常用方法之一是检测由于存储离子的渗透而从薄箔中释放的二次电子。 开发了一种基于二次电子强度分析的新方法，该方法能够确定每个离子的电荷，同时测量其旋转频率。 尽管51 Co 27+和34 Ar 18+离子的质​​荷比几乎相同，因此，离子无法在存储环中分离，但通过应用新方法，短寿命51离子的质量过量 首次将Co确定为ME（Co51）= − 27342（48）keV。 与新数据相比，fp-壳核中的壳模型计算表明需要包括等位旋非保守力。