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搜索资源列表

  1. 电路测试基础，超星书

  2. 电路测试基础，是一本超星书，有兴趣可下载看看。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-12-08
    • 文件大小：5mb
    • 提供者：httpftpbt

  1. s3c2440硬件电路测试代码

  2. s3c2440硬件电路测试代码 s3c2440硬件电路测试代码 s3c2440硬件电路测试代码

  3. 所属分类：C

  1. 逻辑功能测试或门电路测试设计

  2. 本选题结合51单片机稳定可靠的特点，研究以51单片机作为主控芯片的TTL芯片逻辑门电路的设计并测试负载三极管特性参数。设计的目的是为了可以完成对74系列IC芯片逻辑功能或门电路的测试。以从验证的角度分析，只要我们能够完成对74系列中的几种芯片逻辑功能或门的测试，那么应用这个原理，依此继续开发，便可以完成对整个系列芯片逻辑功能的测试和其负载特性参数的测试。

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-08-03
    • 文件大小：613kb
    • 提供者：whorus1

  1. 模数转换电路测试与FSK2电路设计

  2. PAM1，PAM2，PAM3，PAM4，PCM，TDM1，TDM1的电路测试，用Proteus做出FSK2的仿真电路，用DXP绘制AMDEM2的PCB电路

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2012-05-14
    • 文件大小：11mb
    • 提供者：yhvivia

  1. 电路测试基础 电路测试基础

  2. 电路测试基础电路测试基础电路测试基础电路测试基础

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2008-12-04
    • 文件大小：5mb
    • 提供者：elcszcqll

  1. 运用Sawyer Tower电路测试薄膜铁电性能

  2. 声表面波煤矿瓦斯传感器是一种新型瓦斯传感器,PZT基高压电铁电薄膜是该类传感器制备的理想功能材料,铁电性作为PZT基铁电薄膜的另一个重要性能对传感器的工作特点和稳定性具有重要影响。因而,测试并掌握具有高压电性铁电薄膜的铁电性也是器件材料表征的一项重要工作。采用Sawyer Tower电路原理,自主设计铁电测试电路,制备PZT基铁电薄膜,并利用该电路测试薄膜的铁电性。由实验结果可知,自主设计的Sawyer Tower电路能简便、有效、准确和直观的测试薄膜的铁电性能,有望广泛应用于薄膜铁电性能测试及

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-04-26
    • 文件大小：314kb
    • 提供者：weixin_38665804

  1. SJT 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理.pdf

  2. 这是2000版的《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》 国标

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2012-12-12
    • 文件大小：688kb
    • 提供者：yutou1978

  1. 实验三、共射放大电路测试仿真(模板)2018-02-26.docx

  2. 在苦苦学海中，你是否还在针扎，你是否早已看淡，你想偷懒，来这里下载北京邮电大学的实验三、共射放大电路测试仿真，但这只是一部分，剩下的还是需要自己补充，解决你的部分实验之忧

  3. 所属分类：软件测试

    • 发布日期：2020-06-03
    • 文件大小：4mb
    • 提供者：xiuxi121xiuxi

  1. 集成芯片电路测试设计

  2. 集成芯片电路测试设计集成芯片电路测试设计集成芯片电路测试设计

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-08-11
    • 文件大小：246kb
    • 提供者：whorus1

  1. 电子电路测试步骤和方法

  2. 本文主要讲了电子电路测试步骤和方法，下面一起来学习下

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-16
    • 文件大小：73kb
    • 提供者：weixin_38646634

  1. 电子电路测试与实验~~~~~~~~~~

  2. 电子电路测试与实验~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2011-03-05
    • 文件大小：6mb
    • 提供者：wangjx02

  1. 元器件应用中的简单实用的PROM电路测试器

  2. 本设计实例分享一种电路测试器，可以夹在每颗PROM上进行测试，不用将PROM从电路板上拔下。     处理老旧技术会带来有趣的挑战;虽然现代的可程式化元件透过JTAG或SPI介面很容易实现电路测试(tested in circuit，或称“线上测试”)，但测试较老的元件就没这么方便了。     我从事的是一个大型有线数位电话交换系统的维护工作;这些系统最早是在1980年代初期设计的，但目前在美国各地仍能看到这些系统提供服务，因此需要经常维护和修理。其中，经常需要维修的板卡是音讯产生卡(ton

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-15
    • 文件大小：104kb
    • 提供者：weixin_38650150

  1. 电子测量中的基于数字测试系统的LCD控制驱动电路测试方法（二）

  2. 3 LCD控制驱动电路的测试方法 　　由上面简单列举的LCD控制驱动电路测试时的一些典型问题可以看出，此类电路的测试对测试设备的测试能力提出了很高要求，因此对于LCD控制驱动电路来说，最佳的测试设备非LCD电路专用测试系统莫属，比如全球最大的测试设备商日本爱德万（Advantest）公司的T6371、T6373、ND1、ND2等，2008年泰瑞达（Teradyne）推出的D750Ex,以及目前LCD驱动IC封测厂量产中主要使用的横河电机（Yokoga wa）的TS670及TS6700等。TS6

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：135kb
    • 提供者：weixin_38667581

  1. 基于PXI和GPIB总线电路测试系统的开发与设计

  2. 传统的人工方法检测硬件电路的性能存在一系列的问题。测试总线技术是支撑自动化测试系统发展的核心技术，该项目借鉴国内外在自动测试系统(ATS)尤其是军用ATS中的先进技术，针对该电路性能检测的需要，提出基于PXI和GPIB总线的LabVIEW软件平台自动测试系统设计方法。对提高电路测试效率、可信度和自动化水平具有重要意义，解决了工程应用的实际问题，是一项成功的ATS应用案例。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-24
    • 文件大小：223kb
    • 提供者：weixin_38705699

  1. 北京邮电大学_信通院_模电实验三_共射放大电路测试报告

  2. 北京邮电大学_信通院_模电实验三_共射放大电路测试报告

  3. 所属分类：互联网

    • 发布日期：2021-03-16
    • 文件大小：442kb
    • 提供者：zkzkzkz46

  1. 北京邮电大学_信通院_模电实验六_JFET-CS放大电路测试报告

  2. 北京邮电大学_信通院_模电实验六_JFET-CS放大电路测试报告

  3. 所属分类：互联网

    • 发布日期：2021-03-16
    • 文件大小：428kb
    • 提供者：zkzkzkz46

  1. 基于二叉树的时序电路测试序列设计

  2. 为了实现时序电路状态验证和故障检测，需要事先设计一个输入测试序列。基于二叉树节点和树枝的特性，建立时序电路状态二叉树，按照电路二叉树节点（状态）与树枝（输入）的层次逻辑关系，可以直观和便捷地设计出时序电路测试序列。用测试序列激励待测电路，可以验证电路是否具有全部预定状态，是否能够实现预定状态转换。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-30
    • 文件大小：600kb
    • 提供者：weixin_38617413

  1. 多控制器并行处理的安全和起爆电路测试装置

  2. 针对现有测试技术一次上电只能完成对单发引信测试且测试过程繁琐的缺点，提出基于多控制器并行处理的安全和起爆电路测试装置。该测试装置通过一台计算机、两个单片机和温度控制器构成了多机通讯控制系统，两个单片机通过相应的电源模块、触发模块和采集模块与多发被测安全和起爆电路相连，多机间通过串口通讯方式进行信息交换，获得多发被测安全和起爆电路的各种测试数据。分析和试验表明该测试装置能够很好的完成对多发被测安全和起爆电路的测试任务，具有测试效率高、实时性强、操作方便快捷、人为误差小等特点。

  3. 所属分类：其它

  1. 基于数字测试系统的LCD控制驱动电路测试方法（二）

  2. 3 LCD控制驱动电路的测试方法 　　由上面简单列举的LCD控制驱动电路测试时的一些典型问题可以看出，此类电路的测试对测试设备的测试能力提出了很高要求，因此对于LCD控制驱动电路来说，的测试设备非LCD电路专用测试系统莫属，比如的测试设备商日本爱德万（Advantest）公司的T6371、T6373、ND1、ND2等，2008年泰瑞达（Teradyne）推出的D750Ex,以及目前LCD驱动IC封测厂量产中主要使用的横河电机（Yokoga wa）的TS670及TS6700等。TS670及TS6

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：153kb
    • 提供者：weixin_38601215

  1. 简单实用的PROM电路测试器

  2. 本设计实例分享一种电路测试器，可以夹在每颗PROM上进行测试，不用将PROM从电路板上拔下。     处理老旧技术会带来有趣的挑战;虽然现代的可程式化元件透过JTAG或SPI介面很容易实现电路测试(tested in circuit，或称“线上测试”)，但测试较老的元件就没这么方便了。     我从事的是一个大型有线数位电话交换系统的维护工作;这些系统早是在1980年代初期设计的，但目前在美国各地仍能看到这些系统提供服务，因此需要经常维护和修理。其中，经常需要维修的板卡是音讯产生卡(tone

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：94kb
    • 提供者：weixin_38612437
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