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搜索资源列表

  1. 简易数字逻辑电路的设计基础

  2. 随着数字逻辑集成电路的广泛应用, 数字电路仪 器在电子设备中所占的比重越来越大, 对数字逻辑电 路的测试也日益重要。传统的示波器测量方法只能测 试不超过路的信号, 这对工作依赖于大量信号之间 时间关系的数字电路来说, 测试显得*为力。本文 所介绍的数字逻辑测试仪, 与普通双踪示波器配用, 能 够同时测试路数字逻辑信号, 有逻辑波形和逻辑数 值, ”或“ ”两种显示方式, 并具有外部时钟输入和同 步信号输出端, 基本上可满足平常对数字逻辑电路进 行调试、逻辑分析和故障检修的测试要求。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-05-10
    • 文件大小：276kb
    • 提供者：seaair2009

  1. 基于Multisim 9实现电子电路的仿真

  2. Multisim9是加拿大图像交互技术公司（Interactive Image Technoligics简称IIT公司)推出的以Windows为基础的仿真工具。本文具体介绍了Multisim9的仿真功能的特点，并通过放大电路仿真说明了用Multisim9进行放大倍数的测量、对幅频特性的影响、电路非线性失真的影响、温度变化对电路性能的影响等分析方法，并且简单介绍了如何设置参数和进行仿真操作。用Protel99SE软件制作实物，在用Multisim9仿真与实物测得的数据进行比较，测试的相关数据参数

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2009-05-23
    • 文件大小：842kb
    • 提供者：cuishigehaoren

  1. 数字电路实验（共 21 个实验）

  2. 本书第一章为数字电路实验基础知识，主要介绍电子电路的实验要求，电路的安装、调试等技术。第二章为数字电路实验，共有 15 个实验，采用以数字实验箱、电子实验设备为工作平台进行电路实验的传统实验方法。第三章为计算机辅助实验，共有 6个实验，主要以 CPU为工作平台，通过电子电路仿真软件进行电路的仿真实验。 本书所列实验共 21 个。其中基本实验有 4 个： “实验仪器的使用及门电路逻辑功能的测试”、“OC门与TS门”、“波形的产生及单稳态触发器”、“数字电路逻辑功能的测试” 。前3 个为传统实验方

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2009-12-01
    • 文件大小：5mb
    • 提供者：zjh1109

  1. 电路测试基础，超星书

  2. 电路测试基础，是一本超星书，有兴趣可下载看看。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-12-08
    • 文件大小：5mb
    • 提供者：httpftpbt

  1. 数字测试基础(DC,AC,O/S,功能)

  2. 数字测试基础 1． DUT 需要被实施测试的半导体器件通常叫做DUT（Device Under Test，我们常简称“被测器件”），或者叫UUT （Unit Under Test）。 首先我们来看看关于器件引脚的常识，数字电路期间的引脚分为“信号”、“电源”和“地”三部分。 信号脚，包括输入、输出、三态和双向四类， ● 输入：在外部信号和器件内部逻辑之间起缓冲作用的信号输入通道；输入管脚感应其上的电压并将它转化 为内部逻辑识别的“0”和“1”电平。 ● 输出：在芯片内部逻辑和外部环境之间起缓冲

  3. 所属分类：电信

    • 发布日期：2011-08-19
    • 文件大小：2mb
    • 提供者：aioria0815

  1. 电路测试基础 电路测试基础

  2. 电路测试基础电路测试基础电路测试基础电路测试基础

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2008-12-04
    • 文件大小：5mb
    • 提供者：elcszcqll

  1. 集成电路测试技术基础

  2. 主要介绍了集成电路设计中有关的测试技术，例如：组合电路测试，时序电路测试等

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-04-20
    • 文件大小：2mb
    • 提供者：butcher22

  1. 测试性与诊断课件

  2. “电子系统故障诊断与测试性技术”是一门综合性课程， 涉及到电子系统故障模型、诊断推理、测试性分析与设计 等多方面专业知识。学习本课程，使学生掌握常用电子元 器件故障特性，电路测试常用技术、基于模型与数据驱动 的故障诊断推理算法，以及电子系统测试性建模、分析与 设计技术。为测试计量技术及仪器专业的硕士、博士生从 事相关研究方向打下良好的基础。。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2018-05-16
    • 文件大小：2mb
    • 提供者：gaozai168

  1. （多图）运算放大器测试基础解析（四）

  2. 文章将介绍使用推荐测试电路时所涉及的补偿问题。如果测试电路中的环路不稳定，那它就没有用。在测试过程中要一直监控被测试器件测试环路的输出。如果环路发生振荡，而您不知道，您可能会报告不好的结果。更糟糕的是，您可能很晚才发现，而此时纠正该问题已经更难了。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-20
    • 文件大小：97kb
    • 提供者：weixin_38544781

  1. （多图）运算放大器测试基础解析（三）

  2. 文章将介绍适用于自测试电路与双运算放大器测试电路的电路配置。这两种电路可通过不同的继电器配置存在于同一款电路设计中。该电路有助于您使用任何最佳方法测试给定运算放大器。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-20
    • 文件大小：69kb
    • 提供者：weixin_38694343

  1. （多图）运算放大器测试基础解析（二）

  2. 下面将探讨输入偏置电流的两种测试方法。选择哪种方法要取决于偏置电流的量级。我们将介绍器件测试过程中需要考虑的各种误差源。本系列的下篇文章将介绍一款可配置测试电路，其可帮助您完成本文所介绍的所有测量。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-20
    • 文件大小：78kb
    • 提供者：weixin_38499503

  1. 基于FPGA软核的参数可变的压力测试系统设计

  2. 本文根据不同环境下的冲击波压力测试需求，设计了可配置的FPGA软核，在硬件电路的基础上，通过移植可配置的软核，在较短的开发周期内，设计出测试参数可变的测试系统。解决了传统测试系统的开发周期长、成本高、电路可复用性差等问题。对测试系统进行了实验验证后，应用到静爆测试中，有效获得了压力数据。结果表明，系统具有很高的可靠性。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-31
    • 文件大小：84kb
    • 提供者：weixin_38557768

  1. 为运算放大器噪声质量控制缩短测试时间

  2. 本文主要介绍了模拟电路的基础知识

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-21
    • 文件大小：126kb
    • 提供者：weixin_38668776

  1. 基于虚拟仪器的某型高度表测试系统软件研制

  2. 为了研制针对某型高度表的高精度测试系统，采用数字采集技术、综合虚拟仪器技术和自动化测试技术对测试系统进行设计。在基于数字采集卡和数字化仪的硬件电路的基础上。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-22
    • 文件大小：251kb
    • 提供者：weixin_38599545

  1. 电源技术中的基于TSC/TCR 式消弧线圈的晶闸管控制电路的设计方案

  2. 摘要：晶闸管控制电路是消弧线圈实现精确补偿的硬件基础，本文先通过对TSC/TCR 式消弧线圈的分析，后提出了基于TSC/TCR 式消弧线圈的晶闸管控制电路的设计方案。并通过实验电路测试，实现对消弧线圈二次侧投入电容量与电感量的控制，从而验证了该方案的可行性。 　　0 引言 　　单相接地故障是电力系统最常见的故障。中性点不接地电网发生单相接地故障时，可带故障运行2 小时。但是如果电网中的对地电容电流较大（如电缆线路），就会在接地点形成较大电弧，对电力系统的安全运行造成威胁。应用消弧线圈能够可靠

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：198kb
    • 提供者：weixin_38731075

  1. 基础电子中的电路老化试验箱恒温控制系统的设计

  2. 0 引 言 　　目前，各种电子产品应用于我们日常生活的方方面面，但是所有的电子产品都有一定的使用寿命，会随着使用时间的推移逐渐老化电路测试实验箱被广泛采用，在恒温箱温度控制系统中，一般基于单片机设计，其执行器一般采用可控硅模块，控制算法采用双位控制方法、模糊控制方法、传统：PID控制方法、模糊PID控制方法等。采用可控硅模块作为执行机构电路实现比较复杂，并且系统可靠性难以保证。采用双位控制方法控制精度比较粗糙，简单模糊控制方法控制精读同样不能保证。对于具有大时滞特性的温度控制系统，传统PID控

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-09
    • 文件大小：136kb
    • 提供者：weixin_38744207

  1. 电源技术中的技术文章:功率稳定可调LD驱动电路的设计

  2. 在精密光电检测领域中，光源的微小波动会引起 被测量的较大偏移，从而产生较大的测量误差。如在半导体薄膜特性检测中，常常需要检测薄膜反射比以求解出其它光电学参量。由于薄膜增长的缓慢（0.1mm 级/秒），反射比变化非常小，在这种情况下，对于光源稳定性的要求非常高，达到0.1%。稳定光源在光纤测量中像电子电路测试时用振荡器作为信号源一样， 要求发出高稳定、光功率可调的光信号。稳定光源是急待开发的光纤系统测试仪器中的一种重要的基础设备。  　　国内一些学者对稳定激光光源作了一些研究。有的设计方 法使激光

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-26
    • 文件大小：89kb
    • 提供者：weixin_38659955

  1. 考虑时延偏差的数字电路时延测试综述

  2. 先进集成电路工艺下，时延测试是数字电路测试的一项重要内容。各种时延偏差来源如小时延缺陷、工艺偏差、串扰、电源噪声、老化效应等，影响着电路的额定时钟频率，是时延测试中需要考虑的因素。文章在介绍电路时延偏差问题的各种来源的基础上，给出了针对不同的时延偏差问题所涉及的分析、建模、测试生成与电路设计等关键技术。进一步介绍了中国科学院计算技术研究所近年来在考虑时延偏差的数字电路时延测试方面所做的研究工作，包括：考虑串扰/电源噪声的时延测试、基于统计定时分析的测试通路选择、片上时延测量、超速测试、测试优化、

  3. 所属分类：其它

  1. 激光陀螺电路系统对其精度影响的实验分析

  2. 在四频激光陀螺高精度数字一体化电路的基础上,通过控制激光陀螺两臂放电电流差值、两臂电流和值、两对模式的光强差值分别按照预定程序进行精确的改变,从而得到以上参量与陀螺零漂之间的关系系数。对陀螺进行长时间的测试,根据实际工作中各参量的精度计算得出电路系统对激光陀螺精度的影响。实验中为保证结论的一般性,选取两个精度相差较大的激光陀螺进行实验,结果表明,在现有方式下工作的高精度数字一体化电路系统对激光陀螺精度的影响在1%以内。

  3. 所属分类：其它

  1. 热敏电阻等各种电阻的测试方法与经验

  2. 电阻器，简称电阻，是电子电路中基础的元器件之一，对电阻器的测试，是掌握和学习电子技术的基础技能!以下介绍常见电阻器的测试方法和经验。 　　1、固定电阻器 　　测试方法：将两表笔(不分正负)分别与电阻的两端引脚相接，即可测出实际电阻值。为了提高测量精度;应根据被测电阻标称值的大小来选择量程。 　　测试经验： 　　(1)由于电阻挡刻度的非线性关系;它的中间一段分布较为精细，因此应使指针指示值尽可能落到刻度的中段位置，即全刻度起始的20%―80%弧度范围内，以使测量更准确。根据电阻误差

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：102kb
    • 提供者：weixin_38670949
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