注册会员 | 设为首页 | 加入收藏夹
您好，欢迎光临本网站！[请登录] ！[注册会员]！  

搜索资源列表

  1. 粗糙度计算测量

  2. 电子仪器测量，计算。台麻烦了。以后谁还上传资料呢

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2011-11-28
    • 文件大小：160kb
    • 提供者：marlonzhao

  1. 多维功能优化问题的健身景观粗糙度等级分析

  2. 适应度景观的粗糙度等级分析有助于获得多维函数优化问题的难度，改进优化算法，并找到所有局部极小值。 首先，对描述健身景观粗糙度的几种常用指标进行了比较研究，例如自相关函数指标，改进的健身距离相关系数（FDC）系数指标，这些指标是使用样本而不是函数的微分来计算的。 利用功能的总变化，下降率，FDC等指标，构建了一个综合指数，称为粗糙度等级（RG），用于测量健身景观的粗糙度。实验结果表明，改进后的FDC指数和RG指数适合于测量粗糙度特征的各个方面，并且改进后的FDC指数在固定值范围内具有优于RG的优点

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-09
    • 文件大小：720kb
    • 提供者：weixin_38719890

  1. 表面粗糙度干涉图像处理中的阈值优选

  2. 提出用于表面粗糙度自动干涉法测量过程中的-种有效的白光干涉图像阈值分割方法.分割后的二值图像经过干涉条纹边界线革取后得到的被测表面轮廓波形和表面粗糙度参数的计算结果与高精度TALYSURF6型表面粗糙度测量仪的测量结果十分吻合.此种图像分割方法同样也适用于粗糙表面激光干涉图像的二值化分割.

  3. 所属分类：其它

  1. 基于流场纹理表达与表面粗糙度测量的运动目标分割

  2. 针对传统的光流法和背景差法所分割的运动目标存在区域丢失和内部孔洞的缺点，本文提出一种基于流场纹理表达及物体表面粗糙度测量的运动目标分割方法，即通过计算相邻帧间的光流将目标运动表达成流体的流动，并利用线积分卷积来表达流场纹理以展示更多的流场细节，从而将背景图像和运动目标分别表达成不同的纹理，最后通过针描法测量物体表面粗糙度的策略将运动目标和背景的纹理图像映射为表面粗糙度不同的物体，并通过分析直方图确定阈值分割运动目标。实验结果表明，本文提出的运动目标分割方法可自适应地选取阈值，并且可克服内部孔洞。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-03
    • 文件大小：128kb
    • 提供者：weixin_38746515

  1. 三色激光散斑自相关法测量表面粗糙度的分析

  2. 为研究表面弯曲对利用多色散斑测量表面粗糙度的影响，引入表面曲率半径，通过模拟粗糙表面以及其形成的多色散斑场，讨论了不同曲率半径的粗糙曲面对模拟散斑场和散斑延长率的影响。结果表明，引入粗糙表面的曲率半径，对三色激光散斑自相关测量法是可行的。粗糙表面曲率半径越大，其模拟的散斑场和计算的散斑延长率与平直的粗糙表面越接近。曲率半径越大，散斑延长率愈大，并且表面粗糙度测量误差越小。因此，在实际测量中，应该考虑表面弯曲对测量粗糙度精度的影响。

  3. 所属分类：其它

  1. 激光散斑反差与表面粗糙度关系的理论分析

  2. 本文从Fresne1-Kirchhoff衍射公式出发,直接由光强分布导出了散斑平均反差与表面粗糙度特征参数的关系公式,采用指数形式和高斯形式的自相关函数,得到极为相符的计算结果。利用激光衍射散斑平均反差测量表面粗糙度,具有精度高和分辨高等优点,可以用于测试精密表面的粗糙度。

  3. 所属分类：其它

  1. 用于彩色图像分割的多尺度粗糙度测量

  2. 彩色图像分割一直是图像处理系统中的重要技术。 通过基于粗糙集理论的近似彩色直方图的粗糙度测量，可以实现具有低计算复杂度的高精度分割。 但是，由于对邻域相似性的描述不够精确，因此现有的粗糙度量度倾向于过度关注琐碎的均质区域，但不够精确，无法测量颜色均质性。 本文旨在通过模拟人类视觉来构建多尺度粗糙度度量。 我们应用线性尺度空间和粗糙集的理论来生成多个尺度下颜色分布的层次粗糙性。 这种多尺度粗糙度可以容忍琐碎区域的干扰，还可以提供视觉中的多层次同质性表示，因此可以产生精确而直观的分割结果。 此外，我

  3. 所属分类：其它

  1. 实芯保偏光子晶体光纤散射测量与分析

  2. 实芯保偏光子晶体光纤在双折射、温度、抗辐照等方面具有独特的优势, 非常适合于光纤陀螺应用, 然而其损耗较大, 影响着光子晶体光纤陀螺性能的提高, 空气孔内壁表面粗糙度引起的散射是导致损耗的原因之一。针对实芯保偏光子晶体光纤散射损耗, 建立了光纤散射模型, 仿真计算散射损耗为0.179 dB/km; 搭建了全自动测试装置, 测量灵敏度可达1 pW, 散射角测量范围可达15°~165°, 光纤旋转角度分辨率可达1°, 实现了三维散射球的测量, 得到散射损耗为0.23 dB/km, 验证了理论仿真结果

  3. 所属分类：其它

  1. 基于非接触测量的搭接激光焊缝表面质量评估

  2. 针对不锈钢搭接激光焊缝,研究了基于激光测距传感的焊缝表面状态非接触式高精度检测方法。在分析焊缝表面粗糙度、工件倾斜等随机因素对焊缝表面状态检测结果影响的基础上,采用移动均值滤波及图像倾斜修正处理等方法,开发了检测数据滤波及检测结果校正算法。基于激光焊缝表面检测轮廓曲线的特征点识别建立了激光焊缝表面余高/下塌量的检测计算模型。结果表明:检测分析获得的激光焊缝表面轮廓曲线与相应的金相检测结果吻合良好,很好地反映了焊缝的表面状态。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-22
    • 文件大小：10mb
    • 提供者：weixin_38600432

  1. 合金铝表面近红外波段光学常数的反演与双向反射分布函数的计算

  2. 采用分光光度计测得了0.5~1.5 μm波段抛光合金铝样片的镜反射率谱，利用常数外推法和幂函数外推法将其进行外推，获得了全波段的镜反射率谱。然后根据克拉默斯克勒尼希（Kramers-Kronig）方法，反演获得了该样片在0.5~2.5 μm波段的复折射率和介电常数，与0.5~1.5 μm波段椭偏仪的测量结果吻合良好。利用基尔霍夫法和反演得到的介电常数，计算了波长1.06 μm时粗糙合金铝样片的散射双向反射分布函数（BRDF），与BRDF测量仪得到的结果吻合良好。利用样片的粗糙度参数和外推的1.5

  3. 所属分类：其它

  1. 基于多色散斑延长效应的表面粗糙度测量及影响因素分析

  2. 粗糙表面在多波长激光束照射下形成的多色散斑场显示出散斑延长效应,利用此效应可以测量表面粗糙度,并且测量结果在一定条件下不受粗糙表面横向特征的影响。通过模拟计算随机粗糙表面的多色散斑场,以空间平均的多色散斑场局部自相关函数研究了平均散斑延长率〈χ〉对表面轮廓均方根偏差σh的依赖关系,分析了测量系统因素,如入射激光波长组合、成像器件光敏单元尺寸和动态范围对测量结果的影响。结果表明,以空间平均的局部自相关函数代替集平均的散斑自相关函数描述多色散斑延长效应是有效的;为达到一定的粗糙度测量精度,应选择合适

  3. 所属分类：其它

  1. 测量薄膜微粗糙度的总积分散射仪

  2. 介绍了一种检测光学薄膜表面总积分散射(TIS)分布的总积分散射仪。对仪器的基本结构、理论基础、测量原理以及系统性能等进行了阐述,提出了抑制系统噪音和提高测量精度的有效措施。利用该仪器对K9基底上的银(Ag)膜和氧化锆(ZrO2)薄膜进行了测量,并根据标量散射理论得到了表面均方根(RMS)粗糙度。利用光学轮廓仪和原子力显微镜(AFM)分别测量了上述Ag膜和ZrO2薄膜的表面均方根粗糙度,并与总积分散射仪所得的粗糙度进行了比较。结果表明,根据测量的薄膜表面总积分散射计算得到的表面均方根粗糙度与光学轮

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-12
    • 文件大小：712kb
    • 提供者：weixin_38620741

  1. 光学薄膜界面粗糙度互相关特性与光散射

  2. 为了研究光学薄膜界面的互相关特性及光散射特性,介绍了光学薄膜的散射理论和模型。依据光学薄膜矢量散射的表达式,借助于总背向散射理论分析了光学薄膜界面互相关特性对光散射的影响,并用实验验证和分析了TiO2单层薄膜膜层厚度,K9玻璃基底粗糙度以及离子束辅助沉积(IBAD)工艺等因素对光学薄膜界面互相关特性的影响。结果表明,根据矢量光散射理论计算的光学薄膜界面互相关特性和光散射的关系与实验测量结果一致。随着基底粗糙度、薄膜光学厚度的增加,薄膜界面的互相关特性会变差,采用离子束辅助沉积的TiO2单层薄膜的

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-12
    • 文件大小：765kb
    • 提供者：weixin_38551059

  1. 一种软X射线多层膜界面粗糙度的计算方法

  2. 提出一个利用多层膜小角X射线衍射谱衍射峰积分强度计算多层膜界面粗糙度的公式。用磁控溅射技术制备Mo/Si多层膜,用波长为0.154 nm的硬X射线测量样品在小掠入射角区的衍射曲线,分别用本文公式和反射率曲线拟合方法计算了样品的界面粗糙度。实验结果表明:由本文公式获得的界面粗糙度近似于拟合方法获得的界面粗糙度,它们略等于多层膜界面实际粗糙度。

  3. 所属分类：其它

  1. 一种表面粗糙度非接触快速测量的新方法

  2. 照射在样品表面的激光束随着表面粗糙度的不同，反射光密度分布将不同；表面粗糙度增大时，反射光密度将被扩展。本文根据这一原理，提出一种使用激光束快速测量表面粗糙度的无触点光学法。通过测量反射光密度分布曲线的半宽度，由高斯曲线系数的标准差计算表面粗糙度。文中给出了测量结果。

  3. 所属分类：其它

  1. 测量金属膜粗糙度的表面等离子激元光谱方法

  2. 介绍了确定金属膜表面粗糙度的表面等离子激元光谱方法。测量了二种银膜(棱镜/银膜/空气和棱镜/LB膜/银膜/空气)在表面等离子激元激发条件下的光散射强度分布。通过与理论计算的拟合,得到了描写这二种银膜空气随机粗糙界面的特征参数。

  3. 所属分类：其它

  1. 用图像处理技术实现磨削三维表面粗糙度测量

  2. 三维（3D）测量方法较二维（2D）测量能更全面地反映零件真实形貌的几何形状信息, 其参数统计特性好, 具有稳键性。提出了基于数字图像处理技术的测量零件表面粗糙度的三维测量方法, 并构建了表面粗糙度三维测量系统。对从数码相机所采集的图像进行了中值滤波、灰度平衡、直方图变换增强等处理, 并计算了平磨加工的五种不同粗糙度等级试验样块的三维参量, 对其均值m, 方差σ, 表面均方根偏差Sq, 陡峭度Sku和轮廓算术平均偏差Ra相关性进行了讨论。试验表明, 平磨加工样块的三维参数m, σ, Sq随Ra值的

  3. 所属分类：其它

  1. 基于干涉图像处理的表面粗糙度检测系统

  2. 为实现高精度量块表面粗糙度的快速、无损伤、自动化检测,研制了一套基于干涉图像处理的表面粗糙度检测系统。系统由干涉显微镜、数字CCD 摄像头和计算机组成。待测量块表面经干涉显微镜所成的干涉图像由数字CCD 摄像头采集并传输到计算机中,利用数字图像处理技术,对干涉条纹的边缘和中线进行提取,计算出量块表面粗糙度评定参数。提供了实测结果和测量不确定度评定,由测量重复性引起的不确定度为0.9 nm,总的展伸不确定度为3 nm。

  3. 所属分类：其它

  1. 玻璃基底和表面粗糙度在氮化硅薄膜椭偏测量中的影响

  2. 在光谱椭偏测量中，玻璃基底的背反射会给测量结果造成较大影响。针对平板显示器件玻璃基底表面氮化硅镀膜进行了椭偏测量和模型计算。采用相干背反射模型“空气基底空气”计算并拟合得到与厂商数据符合较好的玻璃基底折射率。对氮化硅薄膜采用Tauc Lorentz色散模型进行了分析拟合，讨论了薄膜与基底界面层、表面粗糙度对光学常数及模型拟合的影响，表明在薄膜与基底间晶格失配的情况下，界面层的引入对改善拟合度是必要的。给出了薄膜体系的光学常数、薄膜结构的分析结果。

  3. 所属分类：其它

  1. 抛喷丸表面的多波长散斑自相关法粗糙度测量

  2. 粗糙表面产生的多波长远场散斑图案的散斑延长现象可以用来进行表面粗糙度测量。以抛喷丸表面为研究对象，具体介绍了多波长散斑自相关表面粗糙度测量方法。根据多波长散斑图案的各向同性径向辐射的特征，提出了适用的数字图像处理方法。探讨了局部自相关函数特征长度的选取、数字图像处理过程中的局部窗口尺寸和散斑图像的饱和曝光比等因素对散斑延长效应的影响。通过拍摄和处理每一样品表面多个位置的多波长远场散斑图像，计算了R

  3. 所属分类：其它

« 12 »