随着技术节点的不断缩小，有效而准确的度量标准对于衡量小延迟故障（SDF）的测试质量至关重要，该问题可能会导致电路输出出现故障。 由于包括总延迟故障（GDF）覆盖，以前的度量标准不能集中在SDF的检测上。 我们提出了一种新的统计SDF统计量（S-SDFC），用于区分SDF和GDF并在统计延迟质量模型下评估SDF的测试质量。 实验结果表明，S-SDFC在评估检测SDF的测试集质量方面更为保守有效，在指导测试生成方面优于其他指标。