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搜索资源列表

  1. 漫步者煲箱工具Edifier Speaker Tool

  2. 中文名： 漫步者煲箱工具 英文名： Edifier Speaker Tool 版本： 1.01 软件用途： 1、促进新音箱老化磨合，使音质达到最佳化状态。 2、产生正弦波、三角波、方波的单一频率信号或者扫描信号 软件特点： 1、引导式操作，初学者也可轻松上手 2、无人值守的煲箱模式 3、煲箱时噪声较小，但效率很高 4、自带信号发生器，可以用于测试音箱 5、为大部分声卡优化，大幅提高信号准确度 6、绿色软件，无须安装 7、兼容各种版本的Windows 8、适用于任何品牌音箱，不仅仅局限漫步者品牌

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-12-26
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：gghaosky

  1. 普通充电器是直接影响电动车蓄电池使用寿命的罪魁祸首

  2. 摘 要： 目前通过对电动车市场各项实际情况的调查结果、对不良电动车电池的实验解析结果、对市场上普通充电器充电方式以及该充电方式对电池性能的影响等等进行了深入的分析，并作出了分析报告，此分析报告对当前电动车电池的循环使用寿命缩短原因作出了合理的解释，同时也对当前电动车行充电器的设计具有一定的指导意义，并给电动车用户选择充电器指明了方向。 关键词： 电动自行车“心脏”；铅酸蓄电池；充放电的工作过程；充电方式；循环使用寿命，【美卡得】变频脉冲充电器。 内 容 现状： 近年来随着原油的进一步紧缺，油价

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-01-29
    • 文件大小：100kb
    • 提供者：j24630148

  1. 影响电动车蓄电池循环使用寿命的重要因素

  2. 近年来由于油价节节攀升，电动车作为一种绿色、环保、便捷的交通工具，其发展势头异常迅猛，产销量一直以惊人的速度翻番递增，但是许多消费者在使用电动车半年后铅酸蓄电池就连续出现问题，因为铅酸蓄电池厂家都承诺电池质保一年，于是用户们纷纷找销售商更换铅酸蓄电池，铅酸蓄电池的返修给厂家与经销商及用户带来了一种无形压力，经销商花费了大量的精力检测、维护、保养，还是不能避免被投诉。可电池厂家承诺质保一年的铅酸蓄电池产品,为什么半年后很多都出现了问题呢？它的退返率为什么会急剧增加呢?笔者分析主要成在以下四个方面

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2010-01-29
    • 文件大小：341kb
    • 提供者：j24630148

  1. 世界各国电网关口和工商用户电能表的更新国外电能表

  2. 2010年国外智能电表发展趋势——中国智能电网电力市场改革因能调动社会各方面投资办电的积极性，合理配置资源，降低电价和促进合理节约用电而受到世界各国的重视，故能迅速发展和取得较大的经济效益。 电力市场的发展对电能计量提高了新的要求。例如，需量电价和分时电价实施范围的扩大；电厂竞价上网要求计量0.5或1小时时段电量实施实时电价并有扩大到用户的趋势；电能质量监控和无功计量也已提上日程；预付费、网上处理电费、接电和断电等多种电子商务的发展，以及自动抄表（AMR）功能用于结算和监视表计的实施等等。 这

  3. 所属分类：网络攻防

    • 发布日期：2010-03-15
    • 文件大小：30kb
    • 提供者：biaoneng

  1. Automatic Age Estimation Based on Facial Aging Patterns

  2. Automatic Age Estimation Based on Facial Aging Patterns

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2010-03-25
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：imchongde

  1. 带GPS授时的数据采集

  2. 如今，数据采集系统很多，有基于数字信号处理器 DSP设计的，也有基于现场可编程门阵列FPGA设计的， 这些采集系统尽管采集处理数据能力不差，但大多都采用 传统授时模式。而异地同步测量是工程中经常用到的方 法，如果用传统的授时模式，其时钟频率的产生是用晶体， 而晶体会老化，易受外界环境变化及长期的精度漂移影 响，造成授时精度下降，这样异地同步测量的数据其实在 理论上已经不再同步、同时了。本系统采用GPS新型授 时方法，结合DSP技术和USB通信技术设计的数据采集 系统能较好地解决这个问题。

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2010-03-31
    • 文件大小：287kb
    • 提供者：cuienigmacui

  1. 迈科微Micov MW8209_6208E量产工具v1.1.2.1_20100813最新版 MW8209_6208E量产工具_1.1.2.1

  2. MW8209_6208E量产工具_1.1.2.1_20100810 1.量产设置右上角增加了老化对比功能 2.容量设置过数码之家2.93 MW8209_6208E量产工具_1.1.2.0_20100528 1.增加了块页模式是否用24M问题，如果勾上过数码之家使用24M，不勾则反之 2.优化了小page黑片量产的问题 MW8209_6208E量产工具_1.1.1.9_20100318 1.提高了稳定性、大大降低掉程序概率

  3. 所属分类：Java

    • 发布日期：2011-01-03
    • 文件大小：3mb
    • 提供者：fenair

  1. 创维8K22-32L08HR总线进入调试和软件升级祥解

  2. 工厂菜单调试说明 1、进入工厂菜单的方法： a) 用工厂遥控器按工厂调试键（3FH键）进入工厂模式 b) 先将伴音减到0，然后按住键控板“伴音－”键不放，再按遥控器上的“屏显”键进入工厂模式 2、在工厂调试菜单下，按下遥控器“屏显”键，或再按一次工厂调试键（3F键）可以退出工厂调试菜单。 3、在工厂调试菜单下，在第二项“老化模式”按右键，可以进入老化模式(白屏+M). 4、在老化模式下，按下遥控器“老化模式”键(39H键)或待机键退出老化模式。 ............ 升级图解请下载全文

  3. 所属分类：电子政务

    • 发布日期：2014-06-05
    • 文件大小：345kb
    • 提供者：dyt20

  1. 智能老化模式

  2. 本软件用于电视，平板，手机等android智能终端，工厂生产时老化，检测屏幕是否完好，是否有闪点，暗线等问题。

  3. 所属分类：Android

    • 发布日期：2014-08-26
    • 文件大小：600kb
    • 提供者：wang_yf2014

  1. 石英晶振老化的建模与模型求解

  2. 为预测石英晶振的频率老化, 提出了一种非线性时变模型。 在一阶马尔可夫假设下, 利用多层前向神经网络进行迭代逼近求解。 对四种晶体的全部或部分实验数据进行了学习和预测试验。 结果表明该模型不仅能拟合函数, 而且可在存在野值时, 根据以往的数据预测目前的频率。 与其他线性模型相比, 该模型的预测能力更佳, 适用于多种类型的晶振老化模式, 预测误差小, 有很好的抗噪声能力

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2016-12-11
    • 文件大小：213kb
    • 提供者：qq_24868923

  1. 基于SVM增量学习算法的煤矿高压断路器故障模式识别方法

  2. 高压断路器故障模式的准确识别是矿井电网智能化发展过程中的重要支撑环节。针对高压断路器故障数据不易获取且故障样本较少的问题,提出了一种支持向量机与增量学习算法相结合的故障识别方法,确定了以断路器控制回路电流信号、电压信号以及分合闸振动信号为状态监测量,模拟了弹簧松动、铁芯卡涩、供电异常与线圈老化4种常见故障,提取了故障特征量并建立了故障数据样本与增量学习数据样本,采用支持向量机增量学习算法训练得到了故障识别模型,并利用新增数据样本对其进行了验证。结果表明:支持向量机增量学习算法可准确识别上述4种常

  3. 所属分类：其它

  1. 适应低碳生活的既有住宅适老化再生模式

  2. 适应低碳生活的既有住宅适老化再生模式，唐芃，，社会化居家养老是目前中国主要的养老模式。随着人口老龄化的深入，适应低碳生活,同时解决中国式老龄化所带来的居住问题已成为重�

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-01-10
    • 文件大小：786kb
    • 提供者：weixin_38528086

  1. 开关电源中功率MOSFET管损坏模式及分析

  2. 结合功率MOSFET管不同的失效形态，论述了功率MOSFET管分别在过电流和过电压条件下损坏的模式，并说明了产生这样的损坏形态的原因，也分析了功率MOSFET管在关断及开通过程中发生失效形态的差别，从而为失效在关断或在开通过程中发生损坏提供了判断依据。给出了测试过电流和过电压的电路图。同时分析了功率MOSFET管在动态老化测试中慢速开通、在电池保护电路应用中慢速关断及较长时间工作在线性区时损坏的形态。最后，结合实际应用，论述了功率MOSFET通常会产生过电流和过电压二种混合损坏方式损坏机理和过程

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-17
    • 文件大小：218kb
    • 提供者：weixin_38596267

  1. 显示/光电技术中的OLED器件制作的主要步骤 OLED 器件防老化处理

  2. OLED 器件的有机薄膜及金属薄膜与水和空气会立即氧化变坏,一定要采取措施避免这个问题。可采用无机膜保护法, 无机膜保护材料有氮化硅,氟化镁,氧化铟等,采用电阻加热法或磁控溅射法制备无机保护膜材料。在保护膜形成之后,将制作的器件进行封装,封装工艺一定要在无水无氧的惰性气体中进行,封装材料包括粘合剂和覆盖材料。粘合剂使用紫外固化或热固化环氧固化剂，覆盖材料采用玻璃封盖，在封盖内加装干燥剂来吸附残留的水分。 　　下图为：水分侵入有机层造成的破坏 　　3. 白光器件+彩色滤光片模式 　　最早

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-18
    • 文件大小：102kb
    • 提供者：weixin_38621365

  1. AOPWork:设计切入点来避免模式密集

  2. 在“JUnit:ACook'sTour”一文中，作者ErichGamma和KentBeck讨论了JUnit的设计。他们指出，与很多成熟框架中的关键抽象一样，TestCase也有很高的模式密集，易于使用而难以修改。在AOPWork系列的第四期文章中，WesIsberg重温了Cook'sTour，说明如何通过使用AOP切入点设计来代替面向对象设计，在一定程度上避免导致成熟的设计难以修改的模式密集。即使是最好的Java:trade_mark:程序，也会随着时间的推移而老化。为了满足新的需求，设计也在不

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-22
    • 文件大小：255kb
    • 提供者：weixin_38717171

  1. 无吸收模式滤波结构高亮度大功率宽条形半导体激光器

  2. 提升宽条形半导体激光器水平方向激射光输出的光束质量，改善宽条形半导体激光器的工作特性，一直是大功率、高亮度宽条形半导体激光器器件工艺研究的难点。基于激射光在无源波导内的衍射原理制备宽条形半导体激光器的模式滤波结构，利用AlxNy绝缘介质薄膜应力使基底半导体材料带隙变化的原理制备无吸收无源波导。将两者结合，设计制备了带有无吸收模式滤波器结构的宽条形半导体激光器，使器件平均最大输出功率提高49%，垂直发散角达20.6°，水平发散角达3.3°，3500 h老化实验，其千小时退化率小于0.085%。

  3. 所属分类：其它

  1. 静电放电对GaN基功率型LED老化特性的影响

  2. 对GaN基蓝光功率型LED在老化前和老化期间施加反向人体模式静电放电(ESD)，并对静电打击前后及老化前后的LED光学电学参数进行分析。实验结果及理论分析表明，ESD使LED芯片有源层及限制层中产生缺陷，最终导致电学特性及光学特性的变化。ESD给LED带来的损伤可在老化前期过程中被局部恢复，但随着老化时间推移，电参数漂移程度及光衰幅度不断增大，而老化过程中LED对ESD的敏感度增加，使LED抗ESD能力减弱。

  3. 所属分类：其它

  1. 电阻器常见的失效模式与失效机理

  2. 失效模式：各种失效的现象及其表现的形式。 　　失效机理：是导致失效的物理、化学、热力学或其他过程。 　　1、电阻器的主要失效模式与失效机理为 　　1) 开路：主要失效机理为电阻膜烧毁或大面积脱落，基体断裂，引线帽与电阻体脱落。 　　2) 阻值漂移超规范：电阻膜有缺陷或退化，基体有可动钠离子，保护涂层不良。 　　3) 引线断裂：电阻体焊接工艺缺陷，焊点污染，引线机械应力损伤。 　　4) 短路：银的迁移，电晕放电。 　　2、失效模式占失效总比例表 　　3、失效机理分析

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：126kb
    • 提供者：weixin_38751014

  1. OLED器件制作的主要步骤 OLED 器件防老化处理

  2. OLED 器件的有机薄膜及金属薄膜与水和空气会立即氧化变坏,一定要采取措施避免这个问题。可采用无机膜保护法, 无机膜保护材料有氮化硅,氟化镁,氧化铟等,采用电阻加热法或磁控溅射法制备无机保护膜材料。在保护膜形成之后,将制作的器件进行封装,封装工艺一定要在无水无氧的惰性气体中进行,封装材料包括粘合剂和覆盖材料。粘合剂使用紫外固化或热固化环氧固化剂，覆盖材料采用玻璃封盖，在封盖内加装干燥剂来吸附残留的水分。 　　下图为：水分侵入有机层造成的破坏 　　3. 白光器件+彩色滤光片模式 　　早开

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-19
    • 文件大小：131kb
    • 提供者：weixin_38653691

  1. 基于加速老化试验的磁光玻璃型光学电流传感器的寿命评估

  2. 光学电流传感器（ＯＣＳ）的使用寿命无法从现场运行数据中获得，因此提出了基于加速老化试验的磁光玻璃型ＯＣＳ寿命评估方法。对基于Faraday磁光效应原理的OCS的失效机理和失效模式进行了分析，提出了将插入损耗变化量作为其失效判据，并基于A／D转换器带来的OCS测量误差对失效判据进行了定量计算。以85 ℃　作为加速热应力，设计了OCS的加速老化试验方案，并对试验数据进行了分析。分析结果表明：在95　% 的置信度水平下，被测的OCS在常态温度下的预计使用寿命为22a。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-12
    • 文件大小：898kb
    • 提供者：weixin_38661852
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