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搜索资源列表

  1. 数字芯片测试技术-设计验证

  2. 之前在其他网站上下载的关于芯片测试验证的PPT 主要讲数字电路验证部分

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-01-10
    • 文件大小：856kb
    • 提供者：kaven_yang

  1. ChipGenius.rar（U盘芯片测试工具）

  2. （ChipGenius rar U盘芯片测试工具）让你了解你的优盘到底是正品还是水货，芯片是不会骗人的，测试熟读简单快捷，连白痴也会啊！呵呵

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-03-21
    • 文件大小：134kb
    • 提供者：totmo

  1. 一套芯片测试的方案及软件脚本的制作说明

  2. 一套芯片测试的方案及软件脚本的制作说明，可以仿照此方案来设计对CPU卡进行各种指令的测试方案的设计和测试脚本的设计

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-04-17
    • 文件大小：2mb
    • 提供者：cary_007

  1. IC测试原理_芯片测试原理

  2. IC测试原理_芯片测试原理,pdf格式的

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-06-09
    • 文件大小：249kb
    • 提供者：xinxippt2010

  1. 半导体发光二极管芯片测试方法

  2. 半导体发光二极管芯片测试方法 半导体发光二极管芯片测试方法

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-10-26
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：hekuguanghui

  1. U 盘 芯 片 测 试.U盘芯片测试.

  2. U盘芯片测试. U盘芯片测试.U盘芯片测试.

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2011-04-17
    • 文件大小：443kb
    • 提供者：fy371

  1. 简单方便的触摸芯片测试方法

  2. 详细描述触摸芯片测试方法，简单，方便，以便测试芯片的可靠性

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2011-07-15
    • 文件大小：32kb
    • 提供者：guoguo198034

  1. 数字芯片测试电路图

  2. 数字芯片测试电路图，希望对大家有帮助，有需要的请下载！

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2011-12-26
    • 文件大小：47kb
    • 提供者：zyw445852719

  1. 闪存芯片测试软件

  2. 闪存芯片测试软件 用来测试各种u盘 闪存卡等等的芯片型号

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2012-05-28
    • 文件大小：404kb
    • 提供者：zhoushaocheng

  1. 清华大学芯片测试讲义

  2. 清华大学芯片测试讲义 清华大学芯片测试讲义 清华大学芯片测试讲义

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2008-09-09
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：cicixu

  1. U盘（含SD卡）芯片测试工具

  2. U盘（含SD卡）芯片测试工具，是一款占用空间小，能个帮助量产的工具

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2008-11-12
    • 文件大小：253kb
    • 提供者：dh616854836

  1. 分治算法 芯片测试.py

  2. 芯片测试：蛮力测试和分治策略都有写到，算法按设计与分析课的笔记，博主自己写的，仅仅参考了讲义的伪代码，若有错误请指出，谢谢。 重要的假设:好芯片至少比坏芯片多一片。 测试结果：奇数个芯片√ 偶数个芯片偶尔有错，待加强

  3. 所属分类：讲义

    • 发布日期：2020-04-14
    • 文件大小：4kb
    • 提供者：qq_36888550

  1. 芯片测试的几个术语及解释.pdf

  2. 芯片测试的几个术语及解释pdf,CP是把坏的Die挑出来，可以减少封装和测试的成本。可以更直接的知道Wafer 的良率。FT是把坏的chip挑出来；检验封装的良率。现在对于一般的wafer工艺，很多公司多把CP给省了；减少成本。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-09-14
    • 文件大小：111kb
    • 提供者：weixin_38743968

  1. 清华大学芯片测试讲义(英文PPT)

  2. 清华大学芯片测试讲义(英文PPT) 清华大学芯片测试讲义(英文PPT) 了解知识 增加信息

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2011-01-25
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：ahhfdkx

  1. 采用芯片测试的环路滤波器设计

  2. 以ADF4153小数分频频率合成器为例，研究了其外围环路滤波器的设计方法，给出了基于芯片测试的环路滤波器设计流程，并进行了验证测试。测试结果表明，该滤波器可满足小数分频频率合成器芯片测试的需要。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-29
    • 文件大小：282kb
    • 提供者：weixin_38518722

  1. CPU芯片测试技术.doc

  2. CPU芯片测试技术简介，介绍CPU类的芯片如何进行测试，CPU芯片测试技术简介，介绍CPU类的芯片如何进行测试，可以提供给初学者进行学习

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2020-10-12
    • 文件大小：485kb
    • 提供者：weixin_43802393

  1. 集成电路中的简易光耦芯片测试电路

  2. 光电耦合器广泛应用于可编程序控制器、变频器、家用电器、工业生产等各个行业的电子装置中，其作用众所周知：信号的隔离、耦合传输，对电子装置高压系统电路发生故障，不会波及控制系统。在电路维修中，为快速高效判断其好坏，本人设计自制了一款体积小巧、精准度的光耦芯片测试电路。 　　一、工作原理 　　电路原理如图1 所示，电路用9V 可充电层叠电池供电，循环使用，绿色环保，便于携带。图中ICx 为16 脚带锁活动插座，待测光耦按脚定位放入插座并锁紧。R1 与RP 和R6 组成分压调整限流电路，R6 在测试

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-23
    • 文件大小：158kb
    • 提供者：weixin_38689736

  1. 采用芯片测试的环路滤波器设计

  2. 小数分频频率合成器在测试时必须外接一个环路滤波器电路与压控振荡器才能构成一个完整的锁相环电路。其外围电路中环路滤波器的设计好坏将直接影响到芯片的性能测试。以ADF4153小数分频频率合成器为例，研究了其外围环路滤波器的设计方法，给出了基于芯片测试的环路滤波器设计流程，并进行了验证测试。测试结果表明，该滤波器可满足小数分频频率合成器芯片测试的需要。 　　在进行小数分频频率合成器的芯片测试时，数字部分可以通过常规的数字测试方法即可以实现；而输出射频信号的相位噪声、杂散噪声则需要芯片工作在正常的输出

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：303kb
    • 提供者：weixin_38601878

  1. 全集成射频发射芯片测试及LED遥控的实现

  2. 介绍了一种自主研发的全集成315 MHz/433 MHz射频发射芯片的结构、工作原理及芯片测试方案，用测试板上的跳线进行地址编码，芯片编码电路的振荡及控制信号由FPGA产生，采用超再生接收电路构成LED开关遥控控制系统。测试结果表明，输出功率为9.30 dBm，频率偏差小于0.2%，达到设计要求，可为企业提供一种低成本LED控制系统方案，具有较高的应用价值。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-17
    • 文件大小：434kb
    • 提供者：weixin_38607088

  1. 单片机与DSP中的基于扫描的DFT对芯片测试的影响

  2. 基于扫描的DFT对芯片测试的影响 http:www.guangdongdz.com  2006-05-06   引言随着ASIC电路结构和功能的日趋复杂，与其相关的测试问题也日益突出。在芯片测试方法和测试向量生成的研究过程中,如何降低芯片的测试成本已经成为非常重要的问题。DFT(可测性设计)通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测性的逻辑，从而使芯片变得容易测试，大大降低了芯片的测试成本。目前比较成熟的可测性设计主要有扫描设计、边界扫描设计、BIST（Built In Sel

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-13
    • 文件大小：86kb
    • 提供者：weixin_38642285
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