注册会员 | 设为首页 | 加入收藏夹
您好，欢迎光临本网站！[请登录] ！[注册会员]！  

搜索资源列表

  1. 边界扫描测试的原理及应用设计

  2. 　文章介绍了边界扫描测试的原理,分析了联合测试行动组J TAG控制器的逻辑状态,并给出了 J TAG测试具体应用的VHDL 原代码和逻辑仿真波形。利用J TAG接口可以方便地进行复杂IC 芯片连接的故障定位,灵活控制IC 芯片进入特定的功能模式等。

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2009-07-30
    • 文件大小：125952
    • 提供者：triflejust

  1. 边界扫描测试原理英文资料

  2. 边界扫描中文资料，有兴趣可以浏览下。里面用到javascrip来测试boundary scan。

  3. 所属分类：Java

    • 发布日期：2009-09-10
    • 文件大小：368640
    • 提供者：tianshi227

  1. 边界扫描测试文件格式

  2. 边界扫描测试文件格式，包括五个向量和时钟频率及数目。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2011-01-07
    • 文件大小：173056
    • 提供者：yangxiaoytu

  1. 边界扫描测试协议剖析_从1149_1到1149_6

  2. 边界扫描测试协议剖析，从1149_1到1149_6。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2011-03-31
    • 文件大小：233472
    • 提供者：dabutoushu

  1. 边界扫描测试全自动化的应用研究

  2. 关于边界扫描测试全自动化的应用研究的硕士论文，很有用，很值得FPGA测试的人下载看看。

  3. 所属分类：C

    • 发布日期：2011-12-20
    • 文件大小：697344
    • 提供者：zhuzhu2012

  1. 判断PCB引脚连线的边界扫描测试方法

  2. 判断PCB引脚连线的边界扫描测试方法，李萌，刘思久，本文针对大规模集成电路中器件引脚过于密集，物理探头或测试设备失效的情况，提出并开发了一种基于虚拟仪器思想的边界扫描测试，

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-01-11
    • 文件大小：347136
    • 提供者：weixin_38720653

  1. 边界扫描介绍.doc（边界扫描（Boundary Scan））

  2. 边界扫描的介绍，边界扫描与JTAG的关系“边界扫描（Boundary Scan）测试发展于上个世纪90年代，随着大规模集成电路的出现，印制电路板制造工艺向小，微，薄发展，传统的ICT 测试已经没有办法满足这类产品的测试要求。由于芯片的引脚多，元器件体积小，板的密度特别大，根本没有办法进行下探针测试。一种新的测试技术产生了，联合测试行为组织（Joint Test Action Group）简称JTAG 定义这种新的测试方法即边界扫描测试。”

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2019-10-12
    • 文件大小：878592
    • 提供者：ygleeeon

  1. 边界扫描测试技术原理.ppt

  2. 1、了解边界扫描器件的基本结构； 2、了解边界扫描测试技术的原理； 3、了解边界扫描描述语言BSDL的基本格式； 4、了解边界扫描测试技术的主要应用； 5、了解边界扫描JTAG接口的设计规范；

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-03
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：liang_guo_MT

  1. 边界扫描调试的技巧分享.txt

  2. 咨询过的用户大概都会提出以下三个问题： 1. 什么情况又会造成边界扫描测试不稳定？ 2. 怎样调试边界扫描？ 3. 安捷伦的调试工具怎样用呢？ 那么，今天的课题就来为各位解答这三个问题

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-03
    • 文件大小：7168
    • 提供者：liang_guo_MT

  1. 对PLD进行边界扫描（JTAG）故障诊断

  2. 本文在以PC机作为边界扫描测试向量生成和故障诊断的基础上，对单芯片EPM9320LC84的印刷电路板故障诊断进行了讨论。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-04
    • 文件大小：76800
    • 提供者：weixin_38621565

  1. 基于USB 2.0的边界扫描控制器设计

  2. 随着超大规模集成电路（VLSI）、表面安装器件（SMD）、多层印制电路板（MPCB）等技术的发展，使得统一测控系统综合基带印制电路板上电路节点的物理可访问性正逐步恶化，电路和系统的可测试性急剧下降，常规测试面临挑战。通过研究VLSI芯片资料表明，大多数VLSI芯片都带边界扫描结构，如果将边界扫描技术应用到板级测试中，无疑将对电路板的连接故障和器件失效的准确诊断起到非常重要的作用。边界扫描测试主控系统是实现这一技术必不可少的硬件系统。从JTAG（Joint Test Action Group）提出

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-23
    • 文件大小：165888
    • 提供者：weixin_38661087

  1. BSDL边界扫描语言

  2. 边界扫描是一个完善的测试技术。 边界扫描在自当联合测试行动组（JTAG）90年代初发明了一种解决方案来测试使用了许多新的印刷电路，正在开发和制造的地方几乎没有或根本没有测试探针板的物理访问。 一旦边界扫描成立后，下一步是制定一个标准的芯片供应商的模型边界扫描设备，工具供应商开发自动化工具，以及为最终用户创建的边界扫描测试的建模语言。 因此，边界扫描描述语言（BSDL）已建立。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：113664
    • 提供者：weixin_38617413

  1. 基于FPGA的数据域边界扫描测试向量发生器的设计与实现

  2. 设计了一种基于FPGA的边界扫描测试向量发生器，该发生器可以为边界扫描故障诊断系统提供测试向量，并可计算测试向量的故障覆盖率。与以往通过软件提供测试向量的方法相比，该设计在速度和效率上有了较大提高。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：343040
    • 提供者：weixin_38568031

  1. 基于边界扫描技术的数字系统测试研究

  2. 介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制IC芯片处于特定功能模式的方法。针对IC芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法，并用两块xc9572 pc84芯片互连的PCB板为例进行设计分析和实验实现。通过实验实现,体现了边界扫描技术易于电路系统调试和方便系统设计的特点，且设计的系统控制逻辑简单方便，易于实现。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-26
    • 文件大小：189440
    • 提供者：weixin_38608726

  1. 基于广义特征分析与边界扫描技术的混合信号测试系统

  2. 分析了用于模数混合电路的边界扫描测试技术的工作机制对测试主控系统的功能需求，提出了一种基于微机的符合IEEE1149.4标准的混合信号边界扫描测试主控系统。所采用的广义特征分析法利用库函数映射的思想，将传统的各种故障字典进行统一描述。实践证明，该方法对模数混合电路的测试是行之有效的。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-26
    • 文件大小：128000
    • 提供者：weixin_38609002

  1. 边界扫描测试技术

  2. 扩展到系统级的基础结构是提供单点接入到多扫描链，以支持隔离的诊断能力。这可以用于CPLD和FPGA系统内配置的最佳化，以及编程闪存时存储器读/写周期的最佳化。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-24
    • 文件大小：148480
    • 提供者：weixin_38690830

  1. 电子测量中的基于SOPC的便携式边界扫描故障诊断仪

  2. 边界扫描原理剖析  　　边界扫描技术的核心思想是在器件内部的核心逻辑与I/O引 脚之间插入的边界扫描单元，它在芯片正常工作时是“透明”的，不影响电路板的正常工作。各边界扫描单元以串行方式连接成扫描链，通过扫描输入端将测试矢量 以串行扫描的方式输入，对相应的引脚状态进行设定，实现测试矢量的加载；通过扫描输出端将系统的测试响应串行输出，进行数据分析与处理，完成电路系统的故 障诊断及定位，边界扫描测试原理示意图如图1所示。 　　边界扫描测试的物理基础是IEEE1149.1边界扫描测试总线和设计在器件内

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-26
    • 文件大小：72704
    • 提供者：weixin_38739900

  1. 电子测量中的基于边界扫描技术的混合信号测试系统

  2. 摘要：分析了用于模数混合电路的边界扫描测试技术的工作机制对测试主控系统的功能需求．提出了一种基于微机的符合IEEEll49.4标准的混合信号边界扫描测试主控系统。所采用的广义特征分析法利用库函数映射的思想，将传统的各种故障字典进行统一描述。实践证明，该方法对模数混合电路的测试是行之有效的。　　关键词：混合电路测试边界扫描广义特征分析主控系统 　　在所使用的集成电路中，有许多是将模拟信号作为输入，经传感器转变为数字信号进行处理或直接输出，或者以数字信号输入转变为模拟信号输出。这样的数模混合系统

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-26
    • 文件大小：114688
    • 提供者：weixin_38631960

  1. 基础电子中的边界扫描测试技术

  2. 扩展到系统级的基础结构是提供单点接入到多扫描链，以支持隔离的诊断能力。这可以用于CPLD和FPGA系统内配置的最佳化，以及编程闪存时存储器读/写周期的最佳化。 　　它也支持板到板内连测试(用于背投内连失效诊断)到端口连接器引脚级。另一个优点是在产品装运前提供系统测试，这包括固件检验和简化固件更新。 　　扩展边界扫描到系统级提供执行嵌入式测试结构(即器件级BIST)的基础结构，这可在EPGA、ASIC和SoC中实现。 　　另外，它提供单点接入能力来支持环境重点测试和精确的引脚级诊断。 　

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-22
    • 文件大小：161792
    • 提供者：weixin_38593738

  1. 基于MCF5272的边界扫描测试平台开发

  2. 基于MCF5272的边界扫描测试平台开发、电子技术,开发板制作交流

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-03
    • 文件大小：148480
    • 提供者：weixin_38546817
« 12 3 4 5 6 7 8 »