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  1. 基于JTAG的边界扫描技术

  2. ｐｃｂ电路板的测试技术现在已经要求越来越高，针对ｊｔａｇ口的边界扫描技术是一种新技术

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2011-09-03
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：zhuzj1014

  1. 边界扫描介绍.doc（边界扫描（Boundary Scan））

  2. 边界扫描的介绍，边界扫描与JTAG的关系“边界扫描（Boundary Scan）测试发展于上个世纪90年代，随着大规模集成电路的出现，印制电路板制造工艺向小，微，薄发展，传统的ICT 测试已经没有办法满足这类产品的测试要求。由于芯片的引脚多，元器件体积小，板的密度特别大，根本没有办法进行下探针测试。一种新的测试技术产生了，联合测试行为组织（Joint Test Action Group）简称JTAG 定义这种新的测试方法即边界扫描测试。”

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2019-10-12
    • 文件大小：878592
    • 提供者：ygleeeon

  1. 边界扫描测试技术原理.ppt

  2. 1、了解边界扫描器件的基本结构； 2、了解边界扫描测试技术的原理； 3、了解边界扫描描述语言BSDL的基本格式； 4、了解边界扫描测试技术的主要应用； 5、了解边界扫描JTAG接口的设计规范；

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-03
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：liang_guo_MT

  1. 基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析

  2. 本文以对一个目标板所作的测试工作为例，探讨了在把边界扫描机制引入电路设计的前提下，如何增加板级互连的故障诊断覆盖率。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-05
    • 文件大小：71680
    • 提供者：weixin_38685455

  1. 基于JTAG的星型扫描接口的设计及其仿真

  2. 边界扫描测试技术飞速发展，测试与调试功能不断增强，硬件IP模块向集成多个内核方向发展，以往芯片中传统的测试访问端口(TAP)中嵌入单一的测试访问端口控制器(TAPC)逐渐被系统芯片中嵌入多个TAPC所取代。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-14
    • 文件大小：265216
    • 提供者：weixin_38732924

  1. 基于USB 2.0的边界扫描控制器设计

  2. 随着超大规模集成电路（VLSI）、表面安装器件（SMD）、多层印制电路板（MPCB）等技术的发展，使得统一测控系统综合基带印制电路板上电路节点的物理可访问性正逐步恶化，电路和系统的可测试性急剧下降，常规测试面临挑战。通过研究VLSI芯片资料表明，大多数VLSI芯片都带边界扫描结构，如果将边界扫描技术应用到板级测试中，无疑将对电路板的连接故障和器件失效的准确诊断起到非常重要的作用。边界扫描测试主控系统是实现这一技术必不可少的硬件系统。从JTAG（Joint Test Action Group）提出

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-23
    • 文件大小：165888
    • 提供者：weixin_38661087

  1. BSDL边界扫描语言

  2. 边界扫描是一个完善的测试技术。 边界扫描在自当联合测试行动组（JTAG）90年代初发明了一种解决方案来测试使用了许多新的印刷电路，正在开发和制造的地方几乎没有或根本没有测试探针板的物理访问。 一旦边界扫描成立后，下一步是制定一个标准的芯片供应商的模型边界扫描设备，工具供应商开发自动化工具，以及为最终用户创建的边界扫描测试的建模语言。 因此，边界扫描描述语言（BSDL）已建立。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：113664
    • 提供者：weixin_38617413

  1. 基于边界扫描技术的数字系统测试研究

  2. 介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制IC芯片处于特定功能模式的方法。针对IC芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法，并用两块xc9572 pc84芯片互连的PCB板为例进行设计分析和实验实现。通过实验实现,体现了边界扫描技术易于电路系统调试和方便系统设计的特点，且设计的系统控制逻辑简单方便，易于实现。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-26
    • 文件大小：189440
    • 提供者：weixin_38608726

  1. 基于广义特征分析与边界扫描技术的混合信号测试系统

  2. 分析了用于模数混合电路的边界扫描测试技术的工作机制对测试主控系统的功能需求，提出了一种基于微机的符合IEEE1149.4标准的混合信号边界扫描测试主控系统。所采用的广义特征分析法利用库函数映射的思想，将传统的各种故障字典进行统一描述。实践证明，该方法对模数混合电路的测试是行之有效的。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-26
    • 文件大小：128000
    • 提供者：weixin_38609002

  1. 雷达数字电路便携式自动测试系统设计

  2. 基于对ICT测试、功能测试局限性的深入探讨，以及对边界扫描测试技术的研究与实践，本文提出了“MERGE(组合)”边界扫描测试模型的建立方法，并基于此方法，构建了数字电路便携式自动测试系统，实现了对新型雷达数字电路的高速、准确的测试。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-25
    • 文件大小：178176
    • 提供者：weixin_38499336

  1. 边界扫描测试技术

  2. 扩展到系统级的基础结构是提供单点接入到多扫描链，以支持隔离的诊断能力。这可以用于CPLD和FPGA系统内配置的最佳化，以及编程闪存时存储器读/写周期的最佳化。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-24
    • 文件大小：148480
    • 提供者：weixin_38690830

  1. 电子测量中的基于SOPC的便携式边界扫描故障诊断仪

  2. 边界扫描原理剖析  　　边界扫描技术的核心思想是在器件内部的核心逻辑与I/O引 脚之间插入的边界扫描单元，它在芯片正常工作时是“透明”的，不影响电路板的正常工作。各边界扫描单元以串行方式连接成扫描链，通过扫描输入端将测试矢量 以串行扫描的方式输入，对相应的引脚状态进行设定，实现测试矢量的加载；通过扫描输出端将系统的测试响应串行输出，进行数据分析与处理，完成电路系统的故 障诊断及定位，边界扫描测试原理示意图如图1所示。 　　边界扫描测试的物理基础是IEEE1149.1边界扫描测试总线和设计在器件内

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-26
    • 文件大小：72704
    • 提供者：weixin_38739900

  1. 电子测量中的基于边界扫描技术的混合信号测试系统

  2. 摘要：分析了用于模数混合电路的边界扫描测试技术的工作机制对测试主控系统的功能需求．提出了一种基于微机的符合IEEEll49.4标准的混合信号边界扫描测试主控系统。所采用的广义特征分析法利用库函数映射的思想，将传统的各种故障字典进行统一描述。实践证明，该方法对模数混合电路的测试是行之有效的。　　关键词：混合电路测试边界扫描广义特征分析主控系统 　　在所使用的集成电路中，有许多是将模拟信号作为输入，经传感器转变为数字信号进行处理或直接输出，或者以数字信号输入转变为模拟信号输出。这样的数模混合系统

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-26
    • 文件大小：114688
    • 提供者：weixin_38631960

  1. 基础电子中的边界扫描测试技术

  2. 扩展到系统级的基础结构是提供单点接入到多扫描链，以支持隔离的诊断能力。这可以用于CPLD和FPGA系统内配置的最佳化，以及编程闪存时存储器读/写周期的最佳化。 　　它也支持板到板内连测试(用于背投内连失效诊断)到端口连接器引脚级。另一个优点是在产品装运前提供系统测试，这包括固件检验和简化固件更新。 　　扩展边界扫描到系统级提供执行嵌入式测试结构(即器件级BIST)的基础结构，这可在EPGA、ASIC和SoC中实现。 　　另外，它提供单点接入能力来支持环境重点测试和精确的引脚级诊断。 　

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-22
    • 文件大小：161792
    • 提供者：weixin_38593738

  1. 电子测量中的基于边界扫描技术的数字系统测试研究

  2. 当今，微电子技术已经进入超大规模集成电路(VLSI)时代。随着芯片电路的小型化及表面封装技术(SMT)和电路板组装技术的发展，使得传统测试技术面临着巨大的挑战。在这种情况下，为了提高电路和系统的可测试性，联合测试行动小组(JTAG)于1987年提出了一种新的电路板测试方法--边界扫描测试，并于1990年被IEEE接纳，形成了IEEE1149．1标准，也称为JTAG标准[1]。这种技术以全新的"虚拟探针"代替传统的"物理探针"来提高电路和系统的可测性。由于JTAG标准的通用性很好，现在许多IC公司

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-10
    • 文件大小：233472
    • 提供者：weixin_38719475

  1. EDA/PLD中的基于边界扫描的EPM9320LC84电路板故障诊断

  2. 摘要：结合自适应算法、CX-TB导通测试算法以及二进制计数测试序列，给出了用软件控制EPM9320LC84边界扫描链路，以输出图形并采集引脚对图形的响应，然后通过比较输出测试图形与采集测试图形的差异实现芯片I／O引脚印刷电路板故障的诊断方法。该测试图形便于实现，测试方法快捷、通用性强，诊断结果准确，故障覆盖率高。文中在以ＰＣ机作为边界扫描测试向量生成和故障诊断的基础上，对单芯片——EPM9320LC84的印刷电路板故障诊断进行了一些讨论。 关键词：边界扫描；故障诊断；测试图形IEEE 11

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-10
    • 文件大小：84992
    • 提供者：weixin_38681719

  1. 边界扫描SRAM簇板级互连测试研究

  2. 1 引言 边界扫描技术已成为了VLSI和ASIC测试的重要方法，但是，尽管边界扫描器件越来越多，非边界扫描器件仍然大量存在。在复杂电路设计中，VLSI和ASIC虽然能够完成电路的许多功能，但并不是所有的逻辑功能都可以集成，相当多的功能仍需要采用分离器件或通用集成电路实现，而它们很少支持边界扫描。因此，由边界扫描器件和非边界扫描器件组装的非完全BS器件电路板仍将在今后相当长时间内广泛存在，它们的测试问题已成为板级边界扫描测试技术需要研究的关键问题。随机存取存储器（RAM）是一种应用极为广泛的电子元

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-08
    • 文件大小：225280
    • 提供者：weixin_38657353

  1. 基于MCF5272的边界扫描测试平台开发

  2. 基于MCF5272的边界扫描测试平台开发、电子技术,开发板制作交流

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-03
    • 文件大小：148480
    • 提供者：weixin_38546817

  1. 基于边界扫描技术的板级测试分析

  2. 随着支持IEEE1149.1标准的边界扫描芯片的广泛应用，传统的电路板测试方法如使用万用表、示波器"探针"，已不能满足板级测试的需求，相反一种基于板级测试的边界扫描技术得到了迅速发展。对边界扫描测试技术的原理进行了剖析，根据边界扫描测试系统的使用规则对板级测试方法进行了分析、提出了整体测试流程，最后在通用测试的基础上进行了二次开发，提出了提高电路板测试覆盖率的方法。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-31
    • 文件大小：637952
    • 提供者：weixin_38703968

  1. 边界扫描测试技术原理.ppt

  2. 边界扫描测试技术原理.

  3. 所属分类：互联网

    • 发布日期：2021-04-02
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：qq_40871650
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