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  1. 平面柱面及球面近场测量

  2. 微波天线辐射的精确测量已经和先进的天线设计及改良的天线分析理论产生了密切的联系。特别是在空间应用上,因为它要求天线的尺寸必须做到很小,比如一些小增益天线。因此天线测量在最近几年里吸引了大量感兴趣的人,并且做了大量的研究且带来了新的发展。 以前的测试范围和户外的远场范围也有了一些新的进展。然而,在室内测量技术上也做了大量的努力。就如平面,柱面或者球体的近场扫描的紧缩场技术已经成熟。他们已经被应用到很多地方,就好比是当代最合适的天线测量方法。 这本书考虑了一种新的方案:球面近场扫描。
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2015-04-26
    • 文件大小:3mb
    • 提供者:s00323904
  1. Matlab编程实现天线近场扫描中某种扫描面上探头扫描的位置控制

  2. Matlab编程实现天线近场扫描中某种扫描面上探头扫描的位置控制,可视化效果突出
  3. 所属分类:电信

    • 发布日期:2018-02-09
    • 文件大小:87kb
    • 提供者:uestc2011
  1. 基于近场测试的自参考算法

  2. 对于集成度高的天线,必须采用一定的算法才能实现对各个通道的幅度和相位信息准确有效的检测,而现有常见的算法(包括近场校准、FFT算法等)都需要获得相位信息,因此需要天线对测试提供参考通道。这与天线高集成度相悖,也对天线的设计,特别是共形天线的设计提出了更高要求。为解决传统算法依赖参考通道提供参考相位的问题,并针对高集成度天线常用的近场扫描测试系统,设计了自参考算法的解决方案并进行验证。试验表明,采用自参考测试算法进行近场测试的测试结果与传统带独立参考通道的近场测量系统测试结果高度吻合。此外,采用自
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-15
    • 文件大小:478kb
    • 提供者:weixin_38650508
  1. 汽车电子中的汽车电子系统的极近场EMI扫描技术

  2. 汽车厂商往往采用最新的消费电子系统来体现与其他厂商汽车的差异化,该系统必须在各种苛刻的条件下都能正常工作。动力系统、安全系统和其它汽车控制系统也都有同样的要求,一旦出现故障,这些系统会导致更加严重的后果。   汽车电子系统对于供应商提供的芯片和印制电路板的电磁辐射特别敏感。因此,SAE(原汽车工程师协会)已经定义测试规范并建立满足电磁兼容(EMC)和电磁干扰(EMI)的需求,并对其进行了不断的完善。采用极近场EM扫描技术,供应商的设计团队可以通过一个桌面系统来计量并立即显示辐射的空间和频谱特性
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-21
    • 文件大小:253kb
    • 提供者:weixin_38520275
  1. 新型相敏扫描近场光学显微镜

  2. 新型相敏扫描近场光学显微镜
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-19
    • 文件大小:896kb
    • 提供者:weixin_38675232
  1. 相敏扫描近场光学显微镜中的实时相位误差补偿

  2. 相敏扫描近场光学显微镜中的实时相位误差补偿
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-17
    • 文件大小:1016kb
    • 提供者:weixin_38631182
  1. 太赫兹光纤扫描近场显微镜在乳腺肿瘤诊断中的性能

  2. 太赫兹光纤扫描近场显微镜在乳腺肿瘤诊断中的性能
  3. 所属分类:其它

  1. 太赫兹纤维扫描近场成像诊断人肝癌

  2. 太赫兹纤维扫描近场成像诊断人肝癌
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-11
    • 文件大小:507kb
    • 提供者:weixin_38664469
  1. 新型相敏扫描近场光学显微镜

  2. 新型相敏扫描近场光学显微镜
  3. 所属分类:其它

  1. 扫描近场光学显微镜探针与光场相互作用的分析

  2. 采用时域有限差分方法对镀金属膜光纤探针在近场光探测中对光场产生的扰动和相互作用过程进行了数值分析。选择纳米孔径的隐失场光场和镀金属膜光纤探针建立了近场光探测的理论模型,讨论了探针孔径尺寸、扫描高度等因素对光场探测的影响,以及测量光场与初始光场之间的关系等。研究结果表明,当探针孔径尺寸与待测纳米孔径尺寸相当,探针扫描高度在接近探针孔径尺寸的一半时,测量得到的光场分布数据能够准确描述初始光场分布。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-12
    • 文件大小:1020kb
    • 提供者:weixin_38681736
  1. 高空间分辨率和高光谱分辨率的近场扫描光学显微术

  2. 高空间分辨率和高光谱分辨率的近场扫描光学显微术
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-11
    • 文件大小:684kb
    • 提供者:weixin_38654944
  1. 光子扫描隧道显微镜球形样品二维近场强度分析

  2. 采用时域有限差分方法计算全内反射和光子扫描隧道显微镜系统。光子扫描隧道显微镜的基本工作原理是隐失波的产生和探测,当入射光在两种介质的分界面上发生全内反射,并在界面处产生非辐射的电磁波――隐失波时,采取对两界面入射光进行分别设置的方法即“三波法”设置入射激励元。分别计算一个球和两个球形样品的近场分布,并计算散射小球为探针,一个球为样品的扫描图像。结果表明:采用二维时域有限差分方法计算能较直观地显示样品表面的近场分布。表明时域有限差分方法在光子扫描隧道显微镜理论研究中具有很大潜力。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-11
    • 文件大小:637kb
    • 提供者:weixin_38738983
  1. 入射光的偏振特性对反射式近场光学显微镜

  2. 用偶极子自洽场理论模拟计算了反射式近场光学扫描显微镜中入射光的偏振特性对近场成像结果的影响(包括系统分辨率和相关的成像特性),并给予了相应的分析和解释。分析计算结果表明,入射光偏振性的选择将影响近场光学显微镜的成像质量。在近场区域,用垂直于样品表面偏振的入射光(即z方向偏振)照明成像将得到优于相应水平偏振(即x方向偏振)的入射光照明的系统分辨率。用x方向偏振的入射光照明时,所得光学图像会发生局部的光强对比度反转。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-11
    • 文件大小:387kb
    • 提供者:weixin_38713203
  1. 扫描近场光学显微镜及其初步应用

  2. 介绍的扫描近场光学显微镜能够以探针作为亚微米光源或探测器以及受抑全反射等三种工作方式探测样品,在没有样品-探针间距控制的情况下对全息光栅、脂质体以及沸石粉末等进行了扫描成像,并获得了超衍射极限的光学分辨率,其中最优分辨率可达约100 nm。
  3. 所属分类:其它

  1. 扫描近场光学显微镜光纤锥中导波反射特性

  2. 利用局部模耦合模型理论上分析了扫描近场光学显微镜光纤锥的光场性质, 给出光纤锥中存在的正、 反向传播的基模场微分方程, 以及基模反向耦合系数的数值计算结果, 其最高反射系数达1%左右。 这种反射光可起着光纤锥激光器谐振腔输出端镜的作用。 另外, 抛物型光纤锥探针的反向耦合系数比截锥型的低。 并给出光纤锥中光波逆向反射的实验结果。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-11
    • 文件大小:895kb
    • 提供者:weixin_38607971
  1. 反射式扫描近场光学显微镜及其成像

  2. 介绍了一种光纤探针同时作为光源和探测器的反射式扫描近场光学显微镜,该装置通过采用相干探测、偏振分光等技术克服了该类显微镜所普遍面临的噪声背景干扰问题,具有较高的光学信噪比,并通过样品纵向振动调制锁相实现了对样品表面光强梯度信号的探测成像,进一步改善了成像质量。成像研究表明该装置可对近场衰逝分量进行有效探测并实现了超衍射极限成像。
  3. 所属分类:其它

  1. 静动结合的化学腐蚀法制备近场光学探针的理论分析

  2. 理论上分析了静动结合的化学腐蚀法制备探针的具体机理及过程。在静态腐蚀的过程中, 利用流体力学Young-Laplace方程的一级近似解获得了光纤插入到HF酸中形成的新月形高度。在动态腐蚀过程中, 详细分析了当静态腐蚀时间和动态腐蚀时间分别取不同值时, 光纤移动速度对光纤探针结构的影响。利用此法可制备出尖端锐利、大锥角或多锥体等各种结构的光纤探针。这为实验上制备出性能优良的探针, 为拓宽扫描近场光学显微镜的应用范围奠定基础。将上述理论分析的结果与本文实验中所得初步结果进行了比较, 所得结果一致。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-10
    • 文件大小:969kb
    • 提供者:weixin_38558655
  1. 照明光可控收集式近场光学显微镜测量样品倾角和折射率

  2. 对于收集模式的近场光学显微镜,提出一种新的测量样品折射率和倾斜角的方法。这种方法中,使用一个反馈回路控制照射样品的光强,探针与样品保持等间距垂直振荡,照射样品的光有两束且位置对称。数字信号处理器控制照射光强改变、近场光强采样与探针振荡同步。在一个振荡周期获取一组近场光强极值,在另一个周期,改变每束光强度,隐失场分布发生改变,得到一组不同的近场光强极值,使用从多个振荡周期获取的不同近场光强极值,计算得到样品倾角,折射率。使用光栅和细胞膜对这种方法进行了测试,对光栅样品的扫描得到的形貌图显示这种方法
  3. 所属分类:其它

  1. 近场显微成像法识别高功率激光镜片薄膜内部缺陷

  2. 采用近场显微成像法测量了高功率激光镜片薄膜表面裂纹和内部节瘤缺陷,并分析了它们的形成机制。100 nm孔径的圆锥形针尖辐射的倏逝波与薄膜中预埋的缺陷相互作用, 将倏逝波转化为辐射波后, 由物镜收集并在远场逐点成像,同步地获得薄膜表面的原子力显微镜(AFM)图像和扫描近场光学显微镜(SNOM)图像, 以便直观地识别缺陷产生的物理机制。结果表明:在倏逝波的有效作用区域内, 薄膜表面裂纹与内部节瘤可以同时精确地被识别。通过对比SNOM与AFM结果, 发现基底表面裂纹在镀膜过程中积累了残余应力, 这导致
  3. 所属分类:其它

  1. 使用近场扫描微波显微镜用碳纳米管尖端对软材料进行成像

  2. 使用近场扫描微波显微镜用碳纳米管尖端对软材料进行成像
  3. 所属分类:其它

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