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搜索资源列表

  1. 一种数字集成电路测试系统的设计

  2. 一种数字集成电路测试系统的设计 一种数字集成电路测试系统的设计

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-08-31
    • 文件大小：93kb
    • 提供者：xy318575767

  1. 集成电路测试工程理论与应用

  2. 集成电路测试，射频工程师，硬件工程师的手册，很有实用价值

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-09-03
    • 文件大小：2mb
    • 提供者：mjei0218

  1. 集成电路测试扫描树构建程序---扫描树,C++语言描述

  2. 集成电路测试扫描树构建程序---扫描单元触发器够建扫描树,C++语言描述.好东西啊,有兴趣的可以一起研究.

  3. 所属分类：C++

    • 发布日期：2009-09-23
    • 文件大小：10mb
    • 提供者：hnu08241033

  1. IC测试原理与应用讲义

  2. 集成电路测试技术。电压源，电流源设计与应用，测试设备设计

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-09-29
    • 文件大小：2mb
    • 提供者：zhangdl826

  1. 集成电路测试（详细讲解测试内容）

  2. 集成电路测试集成电路测试集成电路测试集成电路测试

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-10-23
    • 文件大小：21kb
    • 提供者：huhui5566

  1. 测试数据压缩软件源码

  2. 集成电路测试数据压缩，可以达到80%以的平均压缩率超过目前大多数同类软件的压缩效果。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2010-03-14
    • 文件大小：52kb
    • 提供者：zhsxsx

  1. v777集成电路测试系统软硬件使用说明

  2. v777集成电路测试系统软硬件使用说明 v777集成电路测试系统软硬件使用说明

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2011-01-25
    • 文件大小：404kb
    • 提供者：ahhfdkx

  1. 3166集成电路测试系统软硬件使用手册

  2. 3166集成电路测试系统软硬件使用手册 3166集成电路测试系统软硬件使用手册

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2011-01-25
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：ahhfdkx

  1. BC3196D数模混合集成电路测试系统软硬件说明书

  2. BC3196D数模混合集成电路测试系统软硬件说明书 BC3196D数模混合集成电路测试系统软硬件说明书

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2011-01-25
    • 文件大小：2mb
    • 提供者：ahhfdkx

  1. J750集成电路测试系统软硬件使用说明

  2. J750集成电路测试系统软硬件使用说明 J750集成电路测试系统软硬件使用说明

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2011-01-25
    • 文件大小：10mb
    • 提供者：ahhfdkx

  1. M747 数模混合集成电路测试系统Hardware Manual

  2. M747 数模混合集成电路测试系统Hardware Manual M747 数模混合集成电路测试系统Hardware Manual

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2011-01-25
    • 文件大小：229kb
    • 提供者：ahhfdkx

  1. VLSI测试：数字、存储器和混合信号系统

  2. 关于超大规模集成电路测试技术的整体概括与详细描述

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2012-03-24
    • 文件大小：49mb
    • 提供者：z1204162932

  1. 集成电路测试技术讲座-2004年-清华大学

  2. 2004年，清华大学教授在我公司进行集成电路测试技术讲座时的资料

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-01-19
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：renesas

  1. 集成电路测试标准（美军标）

  2. 由美国国防部发布，关于集成电路测试方法的标准

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-04-11
    • 文件大小：5mb
    • 提供者：reader7510

  1. 集成电路测试

  2. 集成电路测试相关知识的基本讲解，有对分类、方法、原则等的详细说明，是很好的PPT

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2012-12-20
    • 文件大小：6mb
    • 提供者：niuniu8023gege

  1. 集成电路测试原理解析

  2. IC测试基本理论；分四块 数字集成电路测试基本原理 存储器和逻辑芯片测试原理 混合信号芯片测试原理 射频/无线芯片测试原理

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2011-03-07
    • 文件大小：442kb
    • 提供者：x_w_d007

  1. 电子测量中的大容量存储器集成电路测试

  2. 大容量存储器集成电路的测试系统是科技型中小企业技术创新基金项目,是根据大容量存储器集成电路SDRAM、DDR SDRAM和：flash RAM的发展趋势而研究开发的测试系统。方案的主要内容为测试方法和测试程序研究开发,其次是测试板、适配器及生产性测试设备的研制和设备结构制作和调试等。特点是基于大容量存储器集成电路的结构,采用全新的测试技术理论和较通用的测试设备,实现实验室精确测试和生产中大批量芯片中测及成品测试。目前对高兆位存储器电路能大批量测试的设备非常昂贵,低价的专用存储器电路测试仪又不能满

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-16
    • 文件大小：92kb
    • 提供者：weixin_38602563

  1. 电源技术中的浅谈集成电路测试机

  2. 1 前言 　　集成电路测试机的种类,若依照其测试功能一般可区分为Logic测试机，Memory测试机及Mixed-signal测试机三大类。其中Logic测试机应用于一般消费性IC，如Voice，MCU IC等测试使用，Memory测试机应用于DRAM，Flash，SRAM等IC测试使用，而Mixed-signed测试机，则应用于Mixed-Signal IC测试，如Vedio，SoC IC等测试使用。 　　虽然不同种类的IC测试机使用于不同类型的IC测试使用，但其最基本的测试功能及原理实际上差

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-27
    • 文件大小：60kb
    • 提供者：weixin_38556668

  1. 电子测量中的一种数字集成电路测试系统的设计

  2. 摘要:介绍了一种数字集成电路测试系统的工作原理、组成。提出了系统的软硬件设计方案。该系统基于自定义总线结构，可测试电平范围宽。 　　关键词:数字集成电路 测试功能 测试通道板 精密测量单元 　　随着数字集成电路的广泛应用，测试系统就显得越来越重要。在网络化集成电路可靠性试验及测试系统项目中，需要检验某些具有宽电平范围的军用数字集成电路芯片，而市场上常见的中小型测试系统可测电平范围达不到要求，而大型测试系统价格昂贵。本文介绍了为此项目研制的一种数字集成电路测试系统，可测电平范

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-13
    • 文件大小：154kb
    • 提供者：weixin_38626984

  1. 大容量存储器集成电路测试

  2. 大容量存储器集成电路的测试系统是科技型中小企业技术创新基金项目,是根据大容量存储器集成电路SDRAM、DDR SDRAM和：flash RAM的发展趋势而研究开发的测试系统。方案的主要内容为测试方法和测试程序研究开发,其次是测试板、适配器及生产性测试设备的研制和设备结构制作和调试等。特点是基于大容量存储器集成电路的结构,采用全新的测试技术理论和较通用的测试设备,实现实验室测试和生产中大批量芯片中测及成品测试。目前对高兆位存储器电路能大批量测试的设备非常昂贵,低价的专用存储器电路测试仪又不能满足测

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：89kb
    • 提供者：weixin_38516190
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