半导体芯片的电磁兼容测试方法与指导，还有标准，对于集成电路设计的人员对芯片进行电磁很好的参考，很多国内做芯片的在这方面做的都不是很全面。

基恩士PG-V安全光栅样本pdf,提供“基恩士PG-V安全光栅样本”下载，资料主要介绍了PG-V安全光栅的特性、规格参数、外形尺寸及安装等，可供选型及使用时参考。PJ-V可扩展安全光栅 光电传感器 规格 区域传感器 感测头 基本单元 扩展单元A 扩展单元B 接近传感器 型号 PJ-V20 PJ-V21 PJ-V22 检测区 140至1260mm 压力传感器 光轴数 8至64光轴 光轴间距 20 mm PLC 检测距离 计数器 检测能力 不透明材料(最小直径28mm) 计时器 光源 红外线LED(

由于集成电路通过高速的脉冲数字信号来进行工作，工作频率越高产生的电磁骚扰频谱越宽，越容易引起对外辐射的EMC方面的问题。本文讲述集成电路EMC测试方法。

集成电路的广泛应用，反过来对其又提出了更高的要求，人们需要性能更好、可靠性高、成本更低的集成电路。从20世纪60年代以来正如摩尔定律预计的那样每隔18到 24个月芯片上的元件数翻了一番，出现了在芯片的价格持续降低的同时，性能和可靠性不断提高的行业特点。集成的元件数的提高可以通过减小芯片上的关键尺寸（CD）或最小化特征尺寸来实现，这样在集成度提高的同时芯片的速度也提高了。由于集成电路通过高速的脉冲数字信号来进行工作，工作频率越高产生的电磁骚扰频谱越宽，越容易引起对外辐射的EMC方面的问题。