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搜索资源 - 高斯光束对二维导体平板太赫兹雷达散射截面影响
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高斯光束对二维导体平板太赫兹雷达散射截面影响
因为在太赫兹(THz)波段下对物体缩比模型雷达散射截面(RCS)的测量可以减少RCS的测量周期与成本,所以太赫兹RCS计算与测量得到了更加广泛的关注。实际测量应用中,多采用类似高斯光束的太赫兹源,然而在计算中通常假定入射光为平面波。为研究这种假设给平板RCS计算结果带来的误差,计算了高斯光束入射条件下二维导体平板的RCS。仿真研究了入射光为2.52 THz激光对导体平板雷达散射截面的影响,同时与平面波入射结果进行了比较分析。计算结果显示,当导体平板宽度为20 mm时,选择波束宽度为40 mm的高
所属分类:
其它
发布日期:2021-02-25
文件大小:2mb
提供者:
weixin_38638596