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  1. JEDEC标准22C101F

  2. JEDEC ESD标准22C101F,Field-Induced Charged-Device Model Test Method for ElectrostaticDischarge-Withstand Thresholds of Microelectronic Components .
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2018-07-05
    • 文件大小:210kb
    • 提供者:space6