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  1. 4200-SCS型半导体特性分析系统优化小电流测量

  2. 许多关键应用都需要能够测量小电流的能力——比如pA级或更小。这些应用包括确定FET的栅极漏流、测试敏感的纳米电子器件，以及测量绝缘体或电容的漏流。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-22
    • 文件大小：451kb
    • 提供者：weixin_38714637