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  1. synopsys软件简介《一》

  2. synopsys软件简介《一》 2007-08-09 一 Astro 　Astro是Synopsys为超深亚微米IC设计进行设计优化、布局、布线的设计环境。Astro可以满足5千万门、时钟频率GHz、在0.10及以下工艺线生产的SoC设计的工程和技术需求。Astro高性能的优化和布局布线能力主要归功于Synopsys在其中集成的两项最新技术：PhySiSys和Milkyway DUO结构。 二 DFT DFT Compiler提供独创的“一遍测试综合”技术和方案。它和Design Compil

  3. 所属分类：C++

    • 发布日期：2009-04-30
    • 文件大小：30kb
    • 提供者：beijing20080

  1. TRI 5000 on power

  2. B-5 On Power 測試資料....................................................................................................4 B-5-1 測試程式與測試資料......................................................................................4 B-5-1-1測試程式結構..............

  3. 所属分类：C

    • 发布日期：2009-08-03
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：tianshi227

  1. Cell-based IC Design and Verification

  2. 1.Design Flow Overview 2.Verilog at a Glance 3.RTL Simulation 4.Code Coverage Analysis 5.RTL Synthesis 6.Logic Synthesis 7.Gate-level Delay Calculation 8.Static Timing Analysis 9.Power Analysis & Optimization 10.DFT & ATPG 11.Automatic Physical Desi

  3. 所属分类：Java

    • 发布日期：2009-10-30
    • 文件大小：5mb
    • 提供者：dominer

  1. 半导体测试各种项目简介

  2. 目录：www.2ic.cn#O/t'N:I6X 1， 测量可重复性和可复制性(GR&R) 2， 电气测试可信度（Electrical Test Confidence） 3， 电气测试的限值空间（Guardband）:r1S/K4S%A7D)~!r 4， 电气测试参数 CPK半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA ,p

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2009-11-09
    • 文件大小：97kb
    • 提供者：xiaoyuyu9172

  1. TetraMAX ATPG Quick Reference

  2. TetraMAX ATPG Quick Reference ATPG工具

  3. 所属分类：Java

    • 发布日期：2010-04-07
    • 文件大小：221kb
    • 提供者：lichtenlade

  1. 边界扫描器件BSDL描述在测试中的应用.txt

  2. 边界扫描”是一种可测性设计技术，即在电子系统的设计阶段就考虑其测试问题[1]。 BSDL（boundary scan des cription language） 语言硬件描述语言（VHDL）的一个子集，是对边界扫描器件的边界扫描特性的描述，主要用来沟通边界扫描器件厂商、用户与测试工具之间的联系，其应用包括：厂商将BSDL描述作为边界扫描器件的一部分提供给用户；BSDL描述为自动测试图形生成（ATPG）工具测试特定的电路板提供相关信息；在BSDL 的支持下生成由IEEE1149.1标准定义的测

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-05-14
    • 文件大小：8kb
    • 提供者：qucix

  1. design for test 基础

  2. 基本的DFT知识，入门用. 中文版，描述简单，明了，非图片

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2013-05-29
    • 文件大小：3mb
    • 提供者：tonghaoran

  1. SOC芯片中的DFT设计实施

  2. 该文档主要描述了SOC芯片中的DFT设计实施，主要内容有DFT、ATPG等内容，对学习集成电路设计很有帮助~！

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2013-11-18
    • 文件大小：23kb
    • 提供者：u012875799

  1. auto test pattern generation

  2. IC开发测试中，Mentor量产测试必备工具

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2014-06-29
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：cheernixue1982

  1. 可测性设计及DFT软件的使用

  2. DFT基础 DFTCompile生成扫描链 TetraMAX生成ATPG 设计实例

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2014-11-20
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：juedizhilang

  1. SoC设计课件

  2. SOC设计课件： Overview of IC Testing Fault Modeling Automatic Test Pattern Generation ATPG Design for test DFT techniques Scan chain technique MBIST Boundary Scan

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2014-12-12
    • 文件大小：2mb
    • 提供者：qq_24461623

  1. TMAX资料集合

  2. 学习TMAX资料学习TMAX资料学习TMAX资料学习TMAX资料学习TMAX资料学习TMAX资料学习TMAX资料学习TMAX资料

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2018-04-04
    • 文件大小：56mb
    • 提供者：mekel

  1. ATPG user guide[tessent 2015]

  2. ATPG user guide[tessent 2015]; Tessent scan and ATPG user Manual, version: 2015.2

  3. 所属分类：讲义

    • 发布日期：2018-09-11
    • 文件大小：8mb
    • 提供者：snail_new

  1. TMAX debug

  2. synopsys TMAX: Tips For Simulation Debug, ATPG Pattern Validation

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-01-24
    • 文件大小：843kb
    • 提供者：fit_stone

  1. tessent scan and ATPG User

  2. 2019 March 最新版,scan atpg文档。描述了scan atpg的操作flow，工具原理

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2019-04-11
    • 文件大小：11mb
    • 提供者：weixin_39874562

  1. VLSI测试技术详解.pdf

  2. VLSI电路的测试技术如今面临着许多激动人心和复杂的挑战。在大型系统嵌入单个片上系统（SOC）并制造的时代 不断缩小技术，确保整个系统的正确行为非常重要。今天的电子设计和测试工程师必须处理这些复杂的问题异构系统（数字，混合信号，存储器），但很少有可能以详细和深入的方式研究整个领域。本书提供了极其广泛的学科知识，详细介绍了基础知识，以及最新和最先进的知识概念。它是故障模拟，ATPG，内存测试，DFT和BIST基础知识的教科书。但是，它也是一个完整的可测试性指南，适用于想要学习DFT软错误保护，用

  3. 所属分类：其它

  1. 一种混合信号电路的ATPG测试方案设计.pdf

  2. 本文提出了一种基于模拟电路频率域测试的新型测试集选择技术。我们提出了一种新的自动测试模式生成（ATPG）方法，称为MultiDetect，用于测试线性时不变（LTI）电路。所提出的技术最适合在片上系统中使用现有的构建模块来实现片上测试信号发生器和测试响应分析器。使用MultiDetect方法生成的测试集可以有效地检测和诊断软故障和硬故障当实现为内置自测（BIST）时，不需要任何精密模拟信号源或信号测量电路。基于电路传递函数的模拟模块测试使我们的ATPG通用目的方法适用于各种LTI电路。本文还介

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-07-23
    • 文件大小：832kb
    • 提供者：weixin_39840588

  1. 可测试性设计与ATPG.ppt

  2. 非常详细的DFT入门资料，详细介绍了常见的DFT模型，以及Scan mode测试技术。最后介绍了ATPG Flow。

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2020-04-30
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：gsjthxy

  1. Tessent Scan and ATPG User's Manual

  2. Tessent Scan and ATPG User's Manual

  3. 所属分类：电信

  1. 混合电路BIST中的DM混沌模型ATPG

  2. 混合电路BIST中的DM混沌模型ATPG

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-28
    • 文件大小：385kb
    • 提供者：weixin_38636983
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