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  1. EDA/PLD中的介质损耗因数的自动数字测量系统

  2. 摘 要: 介绍了以80C196为核心的介质损耗因数自动测量系统,使用了Flash Memory和高速A/D等技术,克服了一般测量系统在反接测量时的绝缘和干扰等问题,达到了较高的测量精度。关键词: 介质损耗因数tgδ 闪速存储体 高速A/D 密封电池 介质损耗因数tgδ是反映高电压电气设备绝缘性能的一项重要指标。通过测量tgδ可以反映出绝缘的一系列缺陷,如绝缘受潮、劣化变质或绝缘中有气体发生放电等。因此,在电力设备运行过程中,要定期对反映设备绝缘的介质损耗因数进行测量,若达不到一定标准,将不
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-09
    • 文件大小:123kb
    • 提供者:weixin_38654589