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  1. G652D光纤宏弯损耗测试法结果分析

  2. 宏弯测试方法可作为判断光纤宏弯性能的一种简便方法，而且Φ60mm×100作为标准明确规定的一种方法，其准确性的提高需依赖于测试装置的改良。大量实践数据验证了截止波长与宏弯损耗存在相关性。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-22
    • 文件大小：52kb
    • 提供者：weixin_38669881