用射频等离子体方法在玻璃基底上制备了类金刚石(DLC)薄膜.采用拉曼光谱、可见紫外近红外光谱、红外光谱等手段对经γ射线(其平均能量为1.25 MeV)辐照后的类金刚石薄膜中氢含量及其变化进行了分析.结果表明,随γ射线辐照剂量的增加,薄膜中SP3C-H键数量明显减少,与此同时,薄膜中氢含量也随之减少.当辐照剂量达1×105 Gy时,SP3C-H键减少了约50%.利用光学带隙数据、完全抑制网络(FCN)理论及相关计算得出膜中氢含量为10%~25%,且其含量随辐照剂量的增加而减少.随辐照剂量增加,类金