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搜索资源 - GaAs基低噪声放大器在电磁脉冲注入下的非线性永久降解
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GaAs基低噪声放大器在电磁脉冲注入下的非线性永久降解
通过注入实验,故障分析和混合模式仿真研究了电磁脉冲(EMP)诱导的基于L波段砷化镓的低噪声放大器(LNA)的非线性退化。 实验结果表明,在EMP下,LNA样品的实时响应,射频和直流特性表现出非线性和永久降解的特征。 详细地,随着注入功率的增加,特性首先退化,然后略微恢复。 另外,非线性退化显示出与脉冲特性密切相关。 失效分析表明,LNA的退化归因于第一级高电子迁移率晶体管的栅极金属条下方和周围的潜在失效缺陷,其恢复可以通过EMP诱导的“退火效应”很好地解释。 仿真结果表明,如果脉冲重复频率小于2
所属分类:
其它
发布日期:2021-03-09
文件大小:2mb
提供者:
weixin_38581308