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  1. 一种基于语音识别SoC 调试的JTAG 接口设计

  2. 摘 要: 在JTA G ( jo int test act ion group )工业标准的基础上, 采用了一种基于语音识别SoC (System on Ch ip)调试的JTA G 接口设计. 该设计以求用最少的硬件开销, 最简单灵活的方式, 支持寄存器查看和设置、 IP 核程序流跟踪、代码覆盖率检查、代码分析、 IP 核扫描测试等功能. 该设计已经应用于以OpenR ISC 为核心 的语音识别SoC 设计平台上.
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2009-05-25
    • 文件大小:141kb
    • 提供者:feisixiao
  1. 自制AvrJTAG(测试通过)

  2. 自制AvrJTAG,测试通过,也可以作编程器用,PC软件progisp167,8
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2009-07-02
    • 文件大小:1mb
    • 提供者:topchao
  1. JTAG的一些说明和应用功能说明

  2. JTAG   JTAG是英文“Joint Test Action Group(联合测试行为组织)”的词头字母的简写,该组织成立于1985 年,是由几家主要的电子制造商发起制订的PCB 和IC 测试标准。
  3. 所属分类:制造

    • 发布日期:2009-07-14
    • 文件大小:46kb
    • 提供者:ch_xin
  1. JTAG Boundary Scan

  2. JTAG:Joint Test Action Group(联合测试行为组织)的介绍,比较完整,自己整理的: **什么是边界扫描(boundary scan)? **Boundary Scan测试原理及实现 **JTAG标准的IC芯片结构 **IEEE 1149.1 标准背景 **JTAG
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2009-09-21
    • 文件大小:397kb
    • 提供者:voolince
  1. 半导体测试各种项目简介

  2. 目录:www.2ic.cn#O/t'N:I6X 1, 测量可重复性和可复制性(GR&R) 2, 电气测试可信度(Electrical Test Confidence) 3, 电气测试的限值空间(Guardband):r1S/K4S%A7D)~!r 4, 电气测试参数 CPK半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA ,p
  3. 所属分类:制造

    • 发布日期:2009-11-09
    • 文件大小:97kb
    • 提供者:xiaoyuyu9172
  1. JTAG 20 针说明

  2. JTAG 是标准的,常见各种原理图中有微小的差别,但功能都是一样! Jlink 的设计兼容性非常好,早期的44B0,LPC22XX 到新的STR9,STM32 等芯片我们都 测试过,在我们开发产品中提高了效率。 1. JTAG 20 针说明
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2010-04-17
    • 文件大小:120kb
    • 提供者:einsteinz
  1. JTAG接口详细解读

  2. 通常所说的JTAG大致分两类,一类用于测试芯片的电气特性,检测芯片是否有问题;一类用于Debug;一般支持JTAG的CPU内都包含了这两个模块。
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2010-05-08
    • 文件大小:33kb
    • 提供者:duzhe2010
  1. IEEE Std 1149.1-2001 (JTAG)

  2. JTAG是联合测试工作组(Joint Test Action Group)的简称,是在名为标准测试访问端口和边界扫描结构的IEEE的标准1149.1的常用名称。
  3. 所属分类:C/C++

    • 发布日期:2010-06-22
    • 文件大小:1mb
    • 提供者:cdg911
  1. JTAG接口电路规范

  2. JTAG是英文“Joint Test Action Group(联合测试行为组织)”的词头字母的简写,该组织成立于1985 年,是由几家主要的电子制造商发起制订的PCB 和IC 测试标准。JTAG 建议于1990 年被IEEE 批准为IEEE1149.1-1990 测试访问端口和边界扫描结构标准。该标准规定了进行边界扫描所需要的硬件和软件。自从1990 年批准后,IEEE 分别于1993 年和1995 年对该标准作了补充,形成了现在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1
  3. 所属分类:制造

    • 发布日期:2010-08-03
    • 文件大小:343kb
    • 提供者:gzhengyu
  1. 关于JTAG的一些说明

  2. 把这一段使用JTAG的一些心得写出来,希望能够对初学者有所帮助. 通常所说的JTAG大致分两类,一类用于测试芯片的电气特性,检测芯片是否有问题;一类用于Debug;一般支持JTAG的CPU内都包含了这两个模块。
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2010-08-18
    • 文件大小:31kb
    • 提供者:nicholaslw
  1. Jtag 介绍 基础

  2. JTAG(Joint Test Action Group)联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片内部测试。
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2010-09-09
    • 文件大小:26kb
    • 提供者:sujinchao
  1. JTAG 接口电路设计与应用

  2. 目前通讯电子产品的芯片、单板、系统的复杂度不断提高,物理尺寸却在不断缩小, JTAG 电路的设计也随之成为关系到单板可测性、稳定性和可靠性的重要因素。 JTAG 测试接 口在集成电路工作时,可以控制管脚的状态,由于应用系统的干扰,可能使JTAG 测试口出 现错误操作,从而影响芯片及其管脚的工作状态,造成芯片不能正常工作,给产品的可靠运 行带来隐患。因此,很有必要对JTAG 接口电路设计进行探讨,找到一种更合理的JTAG 接口 电路设计。
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2010-11-27
    • 文件大小:197kb
    • 提供者:sunlove_2000
  1. 关于JTAG总结

  2. JTAG(Joint Test Action Group)联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议(IEEE 1149.1标准),它是于1986年提出了一个标准的边界扫描体系结构。现在多数的高级器件都支持JTAG协议,如DSP、FPGA器件等。JTAG接口的主要应用:芯片内部测试、可编程芯片的在系统编程、系统调试。
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2011-10-09
    • 文件大小:553kb
    • 提供者:xiaoquan9653
  1. MDA&JTAG测试原理

  2. MDA&JTAG测试原理
  3. 所属分类:制造

    • 发布日期:2014-05-14
    • 文件大小:2mb
    • 提供者:wuzhigang168
  1. 基于JTAG接口电路测试系统的上位机软件设计与实现

  2. 随着大规模集成电路技术的不断发展,元器件变得越来小复杂度 随着大规模集成电路技术的不断发展,元器件变得越来小复杂度 随着大规模集成电路技术的不断发展,元器件变得越来小复杂度 随着大规模集成电路技术的不断发展,元器件变得越来小复杂度 随着大规模集成电路技术的不断发展,元器件变得越来小复杂度 随着大规模集成电路技术的不断发展,元器件变得越来小复杂度 随着大规模集成电路技术的不断发展,元器件变得越来小复杂度 随着大规模集成电路技术的不断发展,元器件变得越来小复杂度 随着大规模集成电路技术的不断发展,
  3. 所属分类:C

    • 发布日期:2017-11-01
    • 文件大小:3mb
    • 提供者:zhangyanankoo
  1. JTAG与ISP下载区别

  2. JTAG是Joint Test Action Group(联合测试行动小组)的缩写,是一种国际标准测试协议(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片内部测试。JTAG用来对芯片进行测试的基本原理是在器件内部定义一个TAP(Test Access Port;测试访问口)通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。
  3. 所属分类:C

    • 发布日期:2018-06-11
    • 文件大小:15kb
    • 提供者:leihaijun001
  1. 什么是JTAG接口——RAM

  2. JTAG 技术是一种嵌入式调试技术,它在芯片内部封装了专门的测试电路 TAP ( Test Access Port ,测试访问口),通过专用的 JTAG 测试工具对内部节点进行测试。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-08-04
    • 文件大小:65kb
    • 提供者:weixin_38692100
  1. JTAG接线描述

  2. 从上面的调试接口示意图可以知道,JTAG测试信号由下面5个信号组成。   TRST:测试复位输入信号,测试接口初始化   TCK:测试时钟,在TCK时钟的同步作用下,通过TDI和TDO引脚串行移入/移出数据或指令;同时,也为TAP(测试访问端口)控制器的状态机提供时钟。   TMS:测试模式选择信号,控制测试接口状态机的操作。   TDI:测试数据输入线,其串行输入数据至边界扫描寄存器或指令寄存器(由TAP控制器的当前状态及己保存在指令寄存器中的指令来控制)。   TDO:测试数据输出
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-11-13
    • 文件大小:71kb
    • 提供者:weixin_38502693
  1. PCB技术中的JTAG测试

  2. 现在,边界扫描技术可用于以器件为中心方式的测试中,使得在开发、调试和生产测试环境中采用JTAG(联合测试行动组)测试技术。JTAG技术是指每个器件引脚的测试点都建在器件内,并把这些测试点连接到5-Wire串行总线上。可以在简单的PC机上进行测试开发和执行测试。这种测试技术的特点是:·PC成为完整的测试系统;·成本低,开发时间短及通用硬件。随着元件封装密度继续增加,测试和调试的物理接入正在减少。几年前就预见JTAG边界扫描测试能解决此问题,但是,当时只有少量器件符合JTAG。现在,解决测试接入问题
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-09
    • 文件大小:95kb
    • 提供者:weixin_38547409
  1. JTAG测试

  2. 现在,边界扫描技术可用于以器件为中心方式的测试中,使得在开发、调试和生产测试环境中采用JTAG(联合测试行动组)测试技术。JTAG技术是指每个器件引脚的测试点都建在器件内,并把这些测试点连接到5-Wire串行总线上。可以在简单的PC机上进行测试开发和执行测试。这种测试技术的特点是:·PC成为完整的测试系统;·成本低,开发时间短及通用硬件。随着元件封装密度继续增加,测试和调试的物理接入正在减少。几年前就预见JTAG边界扫描测试能解决此问题,但是,当时只有少量器件符合JTAG。现在,解决测试接入问题
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-20
    • 文件大小:93kb
    • 提供者:weixin_38707061
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