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  1. Latch-up测试中负电流的影响和防护

  2. 阐述了在Latch-up测试中负电流的产生机理，以及芯片内部寄生双极晶体管对负电流的连锁反应机理，并以模拟电压缓冲器和线性稳压器为例分析了负电流对芯片可能造成的影响，最后提出了一系列在芯片内部可以采取的防护措施。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-16
    • 文件大小：222kb
    • 提供者：weixin_38524246