本文在总结国内外工业过程故障诊断技术现状的基础上，对其中较为重要的 主元分析、部分最小二乘等关键技术进行了深入的研究，对传统的主元分析和判 别式部分最小二乘进行了改进，具体包括： 1. 利用主元相关变量残差和一般变量残差来代替 Q 统计量，解决了过程运行 中出现某些故障类时，传统主元分析模型 2 T 与Q 统计量持续时间过短的问题，为 操作工人提供更加准确详细的信息。 2. 利用小波的多分辨率特性对含噪信号进行多尺度小波变换，在各尺度下尽 可能提取出信号的小波系数而去除属于噪声的小波系数，再由

| | 关于 ChIP-seq样品的分析输出许多富集区域，每个富集区域指示蛋白质与DNA的相互作用或特定的染色质修饰。 当读取的分布与背景显着不同且其对应的显着性度量（p值）低于用户定义的阈值时，将调用富集区域（通常称为“峰值”）。 当分析重复样品时，预期会有重叠的富集区域。 因此，可以将这种重复的证据用于局部降低接受峰所需的最低显着性。 在这里，我们提出了一种联合分析弱峰的方法。 给定一组来自​​（生物或技术）重复的峰，该方法结合了重叠富集区域的p值：用户可以选择一个重叠峰合并显着性的阈值