我们研究了在二维N = 2保形理论中保留一半电荷的通用超保形线缺陷的保形数据。 我们证明了存在线缺陷时应力张量的单点函数与位移算子的两点函数之间的理论独立关系。 当按规范理论将缺陷解释为重的带电粒子时，结果将通过致辐射发射的能量与应力张量与静止粒子的耦合相关。