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  1. JTAG调试原理（OPEN-JTAG开发小组）

  2. 主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2009-02-12
    • 文件大小：571kb
    • 提供者：newlsc