ADI JTAG 仿真技术参考pdf,ADI JTAG 仿真技术参考ANALOG DEVICES JTAG仿真器接口设计 GND1 2EMU no pin(key)3 4GND ADI TAG仿真器与DSP的接口是一个有14个 BTMSWDDIO5 6 TMS 引脚的JIAG仿真器插头。它与JTAG仿真器接 BTCK7 8 TCK 头相连。如果它没有连着JTAG仿真器的话,也 BTRST9 10 TRST BTDI 11 12 TDI 可以通过一个可选的局部(固定在用户板上)扫描 GND 13

数字逻辑设计人员在实现设计目标时有不少工具可用。为适应所需的大量逻辑数和数据率，设计人员可选用FPGA。FPGA在相对小的空间内，以多引脚数封装提供巨大数量的数字逻辑门。 　　　　在印刷电路板(PCB)放置多个多引脚FPGA和其他器件，确保所有互连的完整无损是比较困难的。在制造中用X射线技术可以检验大概的互连问题， 而需要更精确的方法来检测制造、调试和复杂PCB更换的互连问题。 　　一种方法是JTAG(IEEE1149.1)技术。JTAG(联合测试行动组)功能包括基本的输入/输出边界扫描控制

当前，PCB是越来越复杂，不言而喻，想要获得满意的测试覆盖范围也更困难了。而且每种测试方法都有其固有的局限性。于是，测试工程师们不得不另辟蹊径，将几种技术组合起来以达到他们所要求的测试覆盖范围。这正是IEEE 1149.1边界扫描（俗称JTAG）和微处理器仿真测试所追求的。边界扫描和处理器基仿真测试有各自的应用领域，每种技术都能达到某种程度的测试覆盖范围。然而将两种技术无缝地组合在一起，就有可能达到更高的总测试覆盖范围，是任何一种单独技术无法比拟的。若将传统的JTAG结构性测试和处理器基功能仿真

现在，边界扫描技术可用于以器件为中心方式的测试中，使得在开发、调试和生产测试环境中采用JTAG（联合测试行动组）测试技术。JTAG技术是指每个器件引脚的测试点都建在器件内，并把这些测试点连接到5-Wire串行总线上。可以在简单的PC机上进行测试开发和执行测试。这种测试技术的特点是：·PC成为完整的测试系统；·成本低，开发时间短及通用硬件。随着元件封装密度继续增加，测试和调试的物理接入正在减少。几年前就预见JTAG边界扫描测试能解决此问题，但是，当时只有少量器件符合JTAG。现在，解决测试接入问题