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  1. RRAM基氧化物材料的TID效应

  2. RRAM在TID辐射下表现出高度稳定的特性。 但是辐射不同效果在基于RRAM的不同氧化物中显示。 基于RRAM的辐射效应对HfO2和SiO2进行了测试和分析。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-06
    • 文件大小：539kb
    • 提供者：weixin_38552305