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  1. 矢量网络分析仪基础知识,S参数测量

  2. 矢量网络分析仪基础知识和S参数测量

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2012-01-13
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：xumianqi

  1. 矢量网络分析仪基础知识和S参数测量

  2. 比较系统的资料，矢量网络分析仪基础知识和S参数测量。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2013-09-03
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：link89

  1. 矢量网络分析仪基础知识和S参数测量

  2. 矢量网络分析仪基础知识和S参数测量，了解基本的网分知识，入门必备

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2015-11-09
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：wanwang1996

  1. 矢量网络分析仪基础知识和S参数测量

  2. 矢量网络分析仪基础知识和S参数测量

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2016-03-08
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：qq_33450459

  1. 单端口微波网络S参数测量.pdf

  2. S参数深入浅出，小白入门必备，学习单独口S参数测量的不二之选。

  3. 所属分类：讲义

    • 发布日期：2019-07-09
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：u012483907

  1. 在S参数级联过程中防止假信号的方法

  2. S参数的概念是源于对互连器件或系统的微波属性的描述，提供了描述从音频范围到毫米波频率范围的应用中存在的串扰的最直观方法。S参数在射频元件（如滤波器、放大器、混频器、天线、隔离器和传输线）测量中使用最为广泛。测量结果能确定射频器件在正向和反向传输信号时其以复数值（幅度和相位）表示的反射和传输性能。它们全面描述了射频元件的线性特性。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-15
    • 文件大小：545kb
    • 提供者：weixin_38549327

  1. 基于PNA矢量网络分析仪的脉冲信号的S参数测量解决方案

  2. 传统上，矢量网络分析仪被用来测量组件的连续波形(CW)S参数性能。在这些操作环境下，分析仪常常作为窄带测...

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-21
    • 文件大小：82kb
    • 提供者：weixin_38502183

  1. 基于矢网的脉冲信号S参数测量

  2. 传统上，矢量网络分析仪被用来测量组件的连续波形(CW)S参数性能。在这些操作环境下，分析仪常常作为窄带测量仪器工作。它向组件传输已知的CW频率并测量CW频率响应。如果我们想查看单个CW频率的响应，我们可以在频率看到单个的频谱。分析仪具有一个内置的源和接收器，它们被设计成工作在同步模式下，利用窄带检测来测量组件的频率相应。大多数的分析仪可以配置用来对许多频率进行频率扫描。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-21
    • 文件大小：80kb
    • 提供者：weixin_38649838

  1. 脉冲S参数测量中的跟踪技术

  2. 使用矢量网络分析仪测试S参数通常是对被测器件施加连续波激励来完成的，然而在某些情况下，S参数的测量必须使用脉冲激励。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：338kb
    • 提供者：weixin_38535221

  1. EDA/PLD中的在S参数级联过程中防止假信号的方法

  2. S参数的概念是源于对互连器件或系统的微波属性的描述，提供了描述从音频范围到毫米波频率范围的应用中存在的串扰的最直观方法。S参数在射频元件（如滤波器、放大器、混频器、天线、隔离器和传输线）测量中使用最为广泛。测量结果能确定射频器件在正向和反向传输信号时其以复数值（幅度和相位）表示的反射和传输性能。它们全面描述了射频元件的线性特性。     一、引言     在串行数据链路分析和评测使用的高速通信环境中，需要应用程序，在实时示波器的实时波形上执行建模、测量和仿真。针对从被测器件中采集波形使用的测

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-19
    • 文件大小：336kb
    • 提供者：weixin_38675341

  1. 电子测量中的基于时域反射和传输的S参数测量方法

  2. 引言 　　在频域、时域、阻抗域三种电学基本特性测试测量仪器中，以阻抗域测试测量仪器所用电路结构最复杂、测试操作最费时间、成套价格最高。目前能够供应GHz级阻抗域测试测量仪器的公司亦为数不多，特别是矢量网络分析仪(VNA)只有安捷伦、安立、罗德施瓦茨等几家公司生产。VNA的最高带宽达到65GHz，前端使用变频器可将带宽扩大至120GHz，成套售价在二十万美元以上。 　　我们知道，任何电子元器件都可用二端或四端网络来表征，所用参数有Z(阻抗)、Y(电导)、H(混合)和S(散射)，由于Z、Y、H参

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-12
    • 文件大小：278kb
    • 提供者：weixin_38712548

  1. 基础电子中的通过设计、校准固件改善器件的S参数测量

  2. 摘要：本篇应用笔记描述了在测量元器件S参数时，如何校正和减小由测试固件引起的误差。这里提到的固件由带有SMA连接器的微带线印刷电路板(PCB)组成。文中给出了基于MAX2648 5GHz低噪声放大器的实例。 　　本篇应用笔记描述了在测量元器件S参数时，如何校正和减小由测试固件引起的误差。这里提到的固件由带有SMA连接器的微带线PCB组成。文中给出了基于MAX2648 5GHz低噪声放大器的实例。 　　测量误差 　　矢量网络分析仪(VNA)测量中的误差可以分为三类： 　　漂移误差，校准后，

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-12
    • 文件大小：113kb
    • 提供者：weixin_38731226

  1. 电子测量中的矢量网络分析仪PNA-X超越S参数测试

  2. 无论在研发还是在生产制造中，工程师们在测试射频元件时都面临许多重大挑战。在研发过程中，更快并以较少的重复工作来解决设计难题至关重要。生产制造过程中，需要在保持精度和最大产出率的同时，缩短测试时间和降低测试成本。 　　减缓压力的方法之一是使用灵活的高度综合的测试解决方案――如Agilent N5242A PNA-X微波网络分析仪。由于PNA-X的先进体系结构，它不仅提供卓越的性能和精度，而且还能针对超越与网络分析仪相关的传统散射参数（S参数）的各种测量进行配置。一些内置组件（如第二个信号源和宽带

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-07
    • 文件大小：310kb
    • 提供者：weixin_38648037

  1. 电子测量中的网络分析仪测天线S参数应用实例

  2. 1 概述 在微波探测系统中，通常天线都是系统自动控制环路的闭环点。天线作为一个收/发控制系统的重要组成部分，其性能的优劣，将直接影响到全系统的检测能力和探测精度。在实际使用中，对天线的电特性参数及组成部分 的各种微波装置（如高频电缆等）的散射参数，例如天线的匹配特性、天线阻抗、微波装置的反射特性和传输特性参数等都要进行严格的检测。而要准确的对天线及其组成部分微波装置的参数进行测试，采用网络分析仪无疑是最佳的途径。由于篇幅有限，本文只探讨网络分析仪在天线S参数测试方面的应用情况。 2. 天线

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-25
    • 文件大小：139kb
    • 提供者：weixin_38545961

  1. 电子测量中的MAX2640低噪声放大器(LNA)的S参数测量和稳定性分析

  2. MAX2640低噪声放大器(LNA)的S参数测量和稳定性分析 MAX2640低噪声放大器(LNA)的稳定性分析可以通过对S参数的测量来实现。多个测试实例证实了所测量S参数数据的正确性，而且该器件在高达5GHz时是稳定的。该应用笔记推荐了VCC引线所需电感，以确保器件达到最佳稳定性，并总结了MAX2640低噪声放大器(LNA)应用于315MHz的汽车无线门禁系统时的性能以及匹配网络。 概述

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-09
    • 文件大小：67kb
    • 提供者：weixin_38726255

  1. 电子测量中的准确测量脉冲信号的S参数

  2. 传统上，矢量网络分析仪被用来测量元件的连续波形( CW)S参数性能。在这些操作环境下，分析仪常常作为窄带测量仪器工作。它向元件传输已知的CW频率并测量CW频率响应。如果我们想查看单个CW频率的响应，我们可以在频率看到单个的频谱。分析仪具有一个内置的源和接收器，它们被设计成工作在同步模式下，利用窄带检测来测量元件的频率相应。大多数的分析仪可以配置用来对许多频率进行频率扫描。 　　在某些情况下，加到元件上的信号必须以一定的速度和持续时间进行脉冲调制(开关)。如果我们要查看一个单音脉冲调制的频率响

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-04
    • 文件大小：201kb
    • 提供者：weixin_38693657

  1. 非理想TRL校准标准对多端口S参数测量的灵敏度分析

  2. 非理想TRL校准标准对多端口S参数测量的灵敏度分析

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-12
    • 文件大小：959kb
    • 提供者：weixin_38567873

  1. 非理想校准件对S参数测量结果的影响

  2. 非理想校准件对S参数测量结果的影响

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-12
    • 文件大小：840kb
    • 提供者：weixin_38663167

  1. 用超短光脉冲测量半导体微波器件的S参数

  2. 描述了用超短光脉冲测量微波器件Ｓ参数的基本原理和建立的测量系统。用该系统测量了频率高达36 GHz器件的S参数, 并同网络分析仪的测量结果进行了比较, 一致性很好。该系统测量频率可达100 GHz。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-11
    • 文件大小：877kb
    • 提供者：weixin_38609128

  1. 基于时域反射和传输的S参数测量方法

  2. 引言 　　在频域、时域、阻抗域三种电学基本特性测试测量仪器中，以阻抗域测试测量仪器所用电路结构复杂、测试操作费时间、成套价格。目前能够供应GHz级阻抗域测试测量仪器的公司亦为数不多，特别是矢量网络分析仪(VNA)只有安捷伦、安立、罗德施瓦茨等几家公司生产。VNA的带宽达到65GHz，前端使用变频器可将带宽扩大至120GHz，成套售价在二十万美元以上。 　　我们知道，任何电子元器件都可用二端或四端网络来表征，所用参数有Z(阻抗)、Y(电导)、H(混合)和S(散射)，由于Z、Y、H参数的测量都涉

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：365kb
    • 提供者：weixin_38647822
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