次电子噪声Skipper CCD实验仪器（SENSEI）使用最新开发的Skipper-CCD技术，从次GeV暗物质粒子与硅中电子的相互作用中寻找电子反冲。 我们报告了原型SENSEI检测器的第一个结果，该检测器在费米国家加速器实验室的地面上收集了0.019 g天的调试数据。 这些调试数据足以为质量在约500 keV和4 MeV之间的暗物质粒子设置新的直接检测约束。 此外，由于这些数据是在表面上获取的，因此它们不利于先前允许质量约为500 keV至几百MeV的强相互作用暗物质粒子。 我们讨论了这些