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  1. A Prognostic Circuit for Time-Dependent Dielectric Breakdown Failure of MOSFET

  2. A Prognostic Circuit for Time-Dependent Dielectric Breakdown Failure of MOSFET

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2015-06-15
    • 文件大小：439kb
    • 提供者：fanzhixiang

  1. 通达OA数据字典查看器15-16-17版适用

  2. 使用方法：把本文件拷贝到MYOA\webroot目录里面，然后打开浏览器浏览本文件（ 在OA网址后加/tddb.php，例如：oa.123.com/tddb.php )

  3. 所属分类：企业管理

    • 发布日期：2018-01-25
    • 文件大小：1kb
    • 提供者：nero69

  1. CalibrePERC可靠性平台采用创新的方法分享.pdf

  2. 先进工艺会引入新的复杂的可靠性条件，而在全芯片级别使用动态仿真或传统的物理和电路验证技术无法轻松或准确地检查这些条件。Calibre PERC 可靠性平台采用创新的方法，将静态仿真和静态电压传播与逻辑驱动的版图分析相结合，提供快速、精确的自动验证，从而避免 ESD、LUP、TDDB 和其他复杂的可靠性问题。利用 Calibre PERC 可靠性平台，设计人员现在可以确保他们的产品能够提供市场所需的性能和使用寿命。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-07-23
    • 文件大小：774kb
    • 提供者：weixin_39840650

  1. Hybrid Aging Delay Model Considering the PBTI and TDDB

  2. Hybrid Aging Delay Model Considering the PBTI and TDDB

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-22
    • 文件大小：409kb
    • 提供者：weixin_38707061

  1. TDDB characteristic and breakdown mechanism of ultra-thin SiO_2/HfO_2 bilayer gate dielectrics

  2. TDDB characteristic and breakdown mechanism of ultra-thin SiO_2/HfO_2 bilayer gate dielectrics

  3. 所属分类：其它