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  1. VLSI测试综述-李华伟

  2. 综述VLSI内容,关于国内外集成电路相关知识
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2010-09-27
    • 文件大小:190kb
    • 提供者:w8845567
  1. VLSI测试和可测试性设计

  2. 测试矢量生成方法 可测试性技术 可测试性包括可控制性(controllability)和可观察性(observability)两种特性。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2011-01-18
    • 文件大小:144kb
    • 提供者:gaolicai
  1. VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability

  2. 一本很好的关于VLSI测试的书,英文版相当不错,推荐给大家!
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2011-03-10
    • 文件大小:5mb
    • 提供者:chj2888
  1. VLSI系统设计何时和如何设计超大规模集成电路.part1

  2. 随着集成度的增加;在开发LSI/VLSI芯片时,我们将不得不面临新的、难以克服的问题。我们必须把加工工艺、软件、算法、结构、逻辑/电子电路/版图设计、CAD、设计验证、测试和封装等不同的科学和工程课邃协调地绘合在一起,其实这不是新问题,在设计较小规模集成的芯片时,这个情况也遇到过。可是,随着集成度的增加,当五十万个或一百万个晶体管被封装在单块芯片_L时,上述课题中的每一个都变成复杂和困难的问题了,又因为它们在芯片上以复杂的方式彼此互相影响着,所以,这些课题作为一个整体来处理时,就变得更加复杂和
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2011-08-21
    • 文件大小:14mb
    • 提供者:xlswyf
  1. VLSI系统设计何时和如何设计超大规模集成电路.part2.rar

  2. 随着集成度的增加;在开发LSI/VLSI芯片时,我们将不得不面临新的、难以克服的问题。我们必须把加工工艺、软件、算法、结构、逻辑/电子电路/版图设计、CAD、设计验证、测试和封装等不同的科学和工程课邃协调地绘合在一起,其实这不是新问题,在设计较小规模集成的芯片时,这个情况也遇到过。可是,随着集成度的增加,当五十万个或一百万个晶体管被封装在单块芯片_L时,上述课题中的每一个都变成复杂和困难的问题了,又因为它们在芯片上以复杂的方式彼此互相影响着,所以,这些课题作为一个整体来处理时,就变得更加复杂和
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2011-08-21
    • 文件大小:8mb
    • 提供者:xlswyf
  1. VLSI 电路设计验证与测试

  2. 正版购买电子资源,非扫描,Pdf文档目录详细可用。 ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FORDIGITAL, MEMORY AND MIXED-SIGNAL VLSI CIRCUITS. --Today's electronic design and test engineers deal with several types of subsystems, namely, digital, memory, and mixed-signal, each requi
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2011-10-01
    • 文件大小:32mb
    • 提供者:zhaodong1989
  1. VLSI测试:数字、存储器和混合信号系统

  2. 关于超大规模集成电路测试技术的整体概括与详细描述
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2012-03-24
    • 文件大小:49mb
    • 提供者:z1204162932
  1. CMOS VLSI设计原理和系统展望.pdf

  2. 第一章 CMOS电路基础知识 第二章 MOS管理论 第三章 CMOS工艺技术 第四章 电路特性和性能估计 第五章 CMOS电路和逻辑设计 第六章 结构化设计和测试 第七章 符号法版图设计系统 第八章 CMOS子系统设计 第九章 系统实例研究 附录 CMOS和uMOS倒相器噪声容限的计算
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2012-08-22
    • 文件大小:9mb
    • 提供者:yangshuyin520
  1. VLSI测试与分析

  2. VLSI测试与可测试性设计,这里是第一讲,来自于中科院计算机研究所的导师
  3. 所属分类:软件测试

    • 发布日期:2012-09-23
    • 文件大小:1mb
    • 提供者:whfl662
  1. VLSI测试及可测性设计方法

  2. VLSI测试及可测性设计方法
  3. 所属分类:C++

    • 发布日期:2012-12-18
    • 文件大小:1mb
    • 提供者:kid199001
  1. 中科院研究生院课程:VLSI测试与可测试性设计

  2. 中科院研究生院课程 VLSI测试与可测试性设计, 李晓维中科院计算技术研究所,全部课件!!
  3. 所属分类:软件测试

    • 发布日期:2013-04-19
    • 文件大小:14mb
    • 提供者:guotao32
  1. VLSI Test Principles and Architectures

  2. 集成电路测试方面必读书籍,完整介绍集成电路测试概念。
  3. 所属分类:电信

    • 发布日期:2016-01-08
    • 文件大小:44mb
    • 提供者:dake1025yj
  1. VLSI测试方法学和可测性设计

  2. 一本很好的学习VLSI测试的书-- VLSI测试方法学和可测性设计
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2016-01-17
    • 文件大小:6mb
    • 提供者:qq_33205144
  1. VLSI测试方法学和可测性设计part2

  2. VLSI测试方法学和可测性设计--Part2
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2016-01-17
    • 文件大小:6mb
    • 提供者:qq_33205144
  1. VLSI测试方法学和可测性设计part3

  2. VLSI测试方法学和可测性设计--Part3
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2016-01-17
    • 文件大小:4mb
    • 提供者:qq_33205144
  1. VLSI Design for Video Coding - H.264 AVC Encoding from Standard 无水印pdf

  2. VLSI Design for Video Coding - H.264 AVC Encoding from Standard Specification to Chip 英文无水印pdf pdf所有页面使用FoxitReader和PDF-XChangeViewer测试都可以打开 本资源转载自网络,如有侵权,请联系上传者或csdn删除 本资源转载自网络,如有侵权,请联系上传者或csdn删除
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2017-09-30
    • 文件大小:29mb
    • 提供者:u011433684
  1. VLSI测试与可测试性分析

  2. VLSI测试课程用书,讲授关于VLSI Test for testability(DFT)
  3. 所属分类:讲义

    • 发布日期:2018-10-14
    • 文件大小:12mb
    • 提供者:knnk666
  1. VLSI测试与可测试设计2020期末试题.pdf

  2. VLSI测试与可测试设计2020期末试题
  3. 所属分类:讲义

    • 发布日期:2020-12-19
    • 文件大小:387kb
    • 提供者:qq_44767820
  1. 国科大 VLSI测试与可测试性 2020 期末试题

  2. 国科大 VLSI测试与可测试性 2020 期末试题
  3. 所属分类:讲义

    • 发布日期:2020-12-19
    • 文件大小:33kb
    • 提供者:qq_39021670
  1. 16EC7G4:IC的VLSI测试-源码

  2. 16EC7G4 IC的VLSI测试 用于SISR,MISR,LFSR和Cellular Automaton的带有testbench的Verilog代码。
  3. 所属分类:其它

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