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  1. ZnMoO 4闪烁辐射热计中随机重合事件的排除

  2. 事件的随机重合(特别是来自两个中微子双β衰变的事件)可能是由于低温辐射热计在时间上不佳而导致的中微子双β衰变搜索的主要背景之一。 利用前沿分析,平均时间和χ2方法对脉冲形状进行判别,以区分ZnMoO 4低温闪烁辐射热计中的随机重合事件。 这些事件可以通过分析大约14 ms的上升时间和900的信噪比的热信号而在99%的水平上被有效地拒绝,而通过光的分析可以在92%的水平上被有效地拒绝。 信号的上升时间约为3毫秒,信噪比为30,可检测到95%的单个事件。 这些拒绝效率与极低的背景水平兼容的100
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-04-24
    • 文件大小:528kb
    • 提供者:weixin_38537777