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  1. 定量描述光子回波现象

  2. 哈佛大学的研究人员用555.6毫微米的双脉冲激光激发镱(174Yb)蒸气的非均匀加宽吸收线产生了光子回波,即第一个输入脉冲的时间-反演复制。实验中利用两******立激光器以产生第一和第二激发脉冲,这表明为产生此效应并不需要激发脉冲之间的位相相干。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-08
    • 文件大小:583680
    • 提供者:weixin_38500117
  1. 一种改进的KAZE特征检测描述算法

  2. KAZE特征检测与描述算法在图像匹配方面具有较好的性能。然而, KAZE算法中Perona-Malik(P-M)模型的解不具有唯一性, 而且图像弱边缘在尺度空间中易被平滑。为此, 提出一种改进的KAZE特征检测描述算法(CKAZE)。首先, 基于KAZE原理与能量泛函构建自适应扩散滤波函数; 然后, 研究解的唯一性及图像滤波过程中的边缘保持能力; 最后, 提出CKAZE算法, 利用Mikolajczyk标准数据库图像进行特征匹配实验, 对其性能进行验证。结果表明, 对高斯模糊、光照、旋转缩放、视
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-06
    • 文件大小:7340032
    • 提供者:weixin_38637983
  1. 扫描干涉场曝光系统中周期设定对曝光刻线相位的影响

  2. 扫描干涉场曝光系统中的干涉条纹周期是相位锁定系统的重要参数,其设定值与名义值之间的偏差会引起相邻扫描间的干涉条纹相位拼接误差。为获取以扫描曝光方式所制作光栅的衍射波前特征,根据步进扫描曝光的特点及动态相位锁定的工作原理,建立了扫描曝光的数学模型,给出了曝光刻线误差及曝光光栅周期的变化规律,并进行了相关实验验证。结果表明,相位锁定中周期设定误差会带来周期性的刻线误差。曝光光栅周期会随周期设定值的变化而改变,当周期设定误差较小时,曝光光栅周期等于周期设定值。对于曝光光斑束腰半径为0.9 mm、曝光步
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-05
    • 文件大小:4194304
    • 提供者:weixin_38499336
  1. 中规模集成电路功能测试仪的设计

  2. 集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门类可分为:数字集成电路测试仪、存储器测试仪、模拟与混合信号电路测试仪、在线测试系统和验证系统等。目前市场上的测试仪产品功能较单一,价格非常昂贵,给电路的测试、维护带来不便。因此,研究开发简单快捷、具有一定智能化的集成电路测试仪有很高的实用价值[1-2]。   在高等学校的电子实验教学中,经常要用到如模数转换器(ADC)、数模转换器(DA
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-20
    • 文件大小:278528
    • 提供者:weixin_38605538
  1. 中规模集成电路功能测试仪的设计方案

  2. 集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门类可分为:数字集成电路测试仪、存储器测试仪、模拟与混合信号电路测试仪、在线测试系统和验证系统等。目前市场上的测试仪产品功能较单一,价格非常昂贵,给电路的测试、维护带来不便。因此,研究开发简单快捷、具有一定智能化的集成电路测试仪有很高的实用价值[1-2]。   在高等学校的电子实验教学中,经常要用到如模数转换器(ADC)、数模转换器(DA
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-20
    • 文件大小:281600
    • 提供者:weixin_38631042
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