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文件名称: 双金属/介电光栅在光位移检测中的应用
  所属分类: 其它
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  文件大小: 1mb
  下载次数: 0
  上传时间: 2021-03-02
  提 供 者: weixin_********
 详细说明:本文讨论了基于平面内和平面外移动光栅的高分辨率位移检测。 为了提高检测分辨率和稳定性,建立了双金属/介电光栅的模型来研究光栅参数的公差。 通过严格的耦合波长分析来计算光栅的零级光学衍射效率,这取决于光栅参数。 依赖关系曲线分别是余弦曲线和脉冲曲线,对于平面内运动最大斜率优于0.29%/ nm,最高分辨率可达到0.01 nm,对于平面外运动最大。斜率优于1.63%/ nm,最佳分辨率可达0.002 nm。 这些结果表明,面内效应对于远距离和高分辨率位移检测是可行的,而面外效应适合于小距离和高分辨率位移检测。 两种效果都为高分辨率位移传感器的开发提供了设计解决方案。
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