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受激发射损耗显微中数值孔径对偏振光聚焦特性的影响
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文件大小: 2mb
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上传时间: 2021-02-23
详细说明：受激发射损耗(STED)显微可以打破衍射极限，观测到小于200 nm 的细胞器内部结构。利用径向偏振光通过大数值孔径(NA)成像可以提高STED 系统的分辨率。计算了径向偏振光径向光强分布和纵向光强分布，并分析了数值孔径变化时径向光强分布和纵向光强分布的变化。结果表明：纵向聚焦光斑比径向聚焦光斑小，且随着NA 的增大，径向偏振光径向聚焦光斑和纵向聚焦光斑尺寸均变小，强度曲线图的半峰全宽(FWHM)也变小，光强分布更加集中。因此，增大NA 可以提高STED 显微成像系统的分辨率。
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