您好,欢迎光临本网站![请登录][注册会员]  
文件名称: 用新方法测量薄膜厚度
  所属分类: 其它
  开发工具:
  文件大小: 1mb
  下载次数: 0
  上传时间: 2021-02-08
  提 供 者: weixin_********
 详细说明:把薄膜用于光学元件的基本物理思想几十年前就已众所周知。但在激光出现以前,多数薄膜是比较简单的,它们是单层防反射涂层或具有高、低折射率的1/4波片的简单堆迭。但随着激光的出现,薄膜变得前所未有的复杂。在过去二十年中,特定波长处的高反射率能经受非激光工作方式的大光通量,较严格的通带规范的限制等都是镀膜工作者所面临的困难。新的基底材料需有适当折射率的新镀膜材料。基底和镀膜材料要有极高的纯度。制造这种高度复杂薄膜是很困难的,薄膜光学特性的测量也很困难。
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)

下载文件列表

相关说明

  • 本站资源为会员上传分享交流与学习,如有侵犯您的权益,请联系我们删除.
  • 本站是交换下载平台,提供交流渠道,下载内容来自于网络,除下载问题外,其它问题请自行百度
  • 本站已设置防盗链,请勿用迅雷、QQ旋风等多线程下载软件下载资源,下载后用WinRAR最新版进行解压.
  • 如果您发现内容无法下载,请稍后再次尝试;或者到消费记录里找到下载记录反馈给我们.
  • 下载后发现下载的内容跟说明不相乎,请到消费记录里找到下载记录反馈给我们,经确认后退回积分.
  • 如下载前有疑问,可以通过点击"提供者"的名字,查看对方的联系方式,联系对方咨询.
 输入关键字,在本站1000多万海量源码库中尽情搜索: