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上传时间: 2021-02-07
详细说明：基于调制度分析的光学垂直测量技术利用投影和成像共轴，可以有效地解决复杂物体和台阶状物体测量时所存在的遮挡、阴影等问题。该方法不需要截断相位计算和相位展开过程，只需解算条纹的调制度分布就能得到被测物体的三维面形，已成为广泛应用的光学三维检测方法。针对基于傅里叶变换方法的垂直扫描测量技术存在的问题，利用小波变换的局部和多分辨率特性，将小波分析技术用于调制度测量轮廓术中，提高了每个扫描位置获取单帧条纹的调制度测量的精度。推导了调制度和小波系数之间的关系，计算机模拟和实验均验证了方法的有效性。
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