文件名称:
单晶硅太阳电池防电势诱导衰减镀膜工艺分析
开发工具:
文件大小: 1mb
下载次数: 0
上传时间: 2021-02-06
详细说明：电势诱导衰减(PID)能够导致光伏组件功率在较短时间内出现大幅衰退，而PID 现象的产生主要和封装材料及太阳电池表面处理等方面有关。针对太阳电池片的镀膜工艺设计实验，测试并分析了正常工艺和防PID 工艺制作的SiNx减反射膜厚度、折射率、反射率、镀膜前后的少子寿命以及单晶硅成品电池片的电学特性。结果表明，相比标准工艺，虽然防PID 工艺制作的单晶硅太阳电池具有较好的钝化效果，但在整个光谱相应范围减反射效果较差是导致转化效率较低的主要原因。电致发光测试表明，防PID 工艺并没有给单晶硅太阳电池带来额外的缺陷，但是防PID 工艺制作的太阳电池在组件应用时却具有抵抗PID 现象及防止金属离子对电池产生破坏的能力。
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)
下载文件列表
相关说明
- 本站资源为会员上传分享交流与学习,如有侵犯您的权益,请联系我们删除.
- 本站是交换下载平台，提供交流渠道，下载内容来自于网络，除下载问题外，其它问题请自行百度。
- 本站已设置防盗链，请勿用迅雷、QQ旋风等多线程下载软件下载资源，下载后用WinRAR最新版进行解压.
- 如果您发现内容无法下载，请稍后再次尝试；或者到消费记录里找到下载记录反馈给我们.
- 下载后发现下载的内容跟说明不相乎，请到消费记录里找到下载记录反馈给我们，经确认后退回积分.
- 如下载前有疑问，可以通过点击"提供者"的名字，查看对方的联系方式，联系对方咨询.
