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上传时间: 2021-02-05
详细说明：理论和实验研究了一种由开口谐振环（SR）和双金属线（CW）组合的具有类电磁诱导透明(EIT)效应的SR/CW太赫兹谐振器。分别对由单侧开口和双侧开口谐振环的SR/CW谐振器特性进行了仿真，并分析了开口环在结构单元中位置的变化对谐振峰强度和品质因子Q的影响。结果表明，两个谐振器在0.7 THz附近的谐振峰是由开口环LC谐振和双金属线偶极谐振干涉相消引起的。开口环位置变化对单侧开口环的SR/CW结构谐振峰强度和Q值影响较大，而对双侧开口环的SR/CW谐振器的影响很小。利用激光诱导与化学镀铜技术制备了SR/CW谐振器样品，并利用太赫兹时域光谱(THz-TDS)对样品进行了透射性能测试，测试结果与仿真分析基本相符。
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