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文件名称: 大联大推出基于ADI的ADuCM360的热电偶测量仪解决方案
  所属分类: 其它
  开发工具:
  文件大小: 553kb
  下载次数: 0
  上传时间: 2021-01-20
  提 供 者: weixin_********
 详细说明:微电子电路面临的风险比以往任何时候都大,罪魁祸首是静电放电(ESD)。这些祸害是隐秘的杀手,特别容易攻击敏感的IC。单次静电放电事件就可以将PCB送入地狱。抗静电放电设计只要错失一步就可能意味着延误上市时间、影响开发进度,以及激怒客户。在某些高压力情况下,甚至意味着你的饭碗不保。   在尺寸不断缩小的微电子时代,如果ESD瞬变未加抑制地在PCB走线上出现之前你不去主动地阻止它们,那么ESD事件很可能毁了你的产品。   在写这篇文章时,我刚好想起几个月前发生的一件相当有趣的事。一位快要发疯了的客户联系我们寻求紧急帮助,希望能够保护他的系统免遭“愤怒的”ESD瞬变伤害。这个可怜的家伙遭受了一系
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