文件名称:
基于软件的空间辐照下FPGA可靠性设计方法
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文件大小: 174kb
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上传时间: 2021-01-20
详细说明：FPGA以其集成度高、灵活性强、开发周期短的特点，在航天领域得到了越来越广泛的应用。然而，其工作的空间环境存在着大量γ光子、辐射带电子、高能质子等高能粒子。这些高能粒子轰击到器件上，会产生总剂量效应（Total Ionizing Dose， D）、单粒子翻转（Single Event Upset， SEU）、单粒子锁定（Single Event Latchup， SEL）、单粒子烧毁（Single Event Bumout，SEB）、单粒子栅击穿（Single Event Gate Rupture， SEGR）、内带电效应等空间辐射效应[1]。这些效应对基于SRAM的FPGA的影响尤为明显。现
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