文件名称:
使用肖特基二极管保护射频采样ADC输入
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文件大小: 162kb
下载次数: 0
上传时间: 2021-01-20
详细说明：任何高性能ADC，尤其是射频采样ADC，输入或前端的设计对于实现所需的系统级性能而言很关键。很多情况下，射频采样ADC可以对几百MHz的信号带宽进行数字量化。前端可以是有源（使用放大器）也可以是无源（使用变压器或巴伦），具体取决于系统要求。无论哪种情况，都必须谨慎选择元器件，以便实现在目标频段的ADC性能。简介射频采样ADC采用深亚微米CMOS工艺技术制造，并且半导体器件的物理特性表明较小的晶体管尺寸支持的电压也较低。因此，在数据手册中规定的出于可靠性原因而不应超出的电压，将当前主流的射频采样ADC与之前的老器件相比，可以发现这个电压值是变小的。在使用ADC对输入信号进行数字量化的接收机应用中
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