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在下一代嵌入式系统设计中采用平行测试测略
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上传时间: 2021-01-19
详细说明：嵌入式设计正面临一种有趣的两难抉择：系统更加复杂，但时间日益紧迫，且对质量的要求更高。今天的嵌入式装置拥有较过去更丰富的功能，由FPGA、微处理器、相机与运动传感器构成的系统，可控制从自主乐高机器人到CERN的大型强子碰撞器等装置。这些设备往往受到安全监控并具备大量软件，传统的黑盒测试不太有效，这一度在嵌入式设计中形成了可怕的验证与测试瓶颈。 传统测试方法显然无法满足需求，工程师与嵌入式开发人员没有时间进行手动测量，也无法冒着可能在终制造过程才发现关键缺陷的风险。同时，亚洲市场也带来了独特挑战，如必须整合各地的开发周期，以及激烈的成本压力。因此，嵌入式设计师需要创新的工具、技术和方法学。若没
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