[硬件开发] AT_ESP8266_512K.zip

说明：AT固件，flash大小512K（4Mbit），编译SDK ESP8266_NONOS_SDK-2.2.1
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[硬件开发] ESP8266_NONOS_SDK-2.2.1_AT_512k&xtensa-lx106-elf-linux64.zip

说明：AT固件ESP8266_NONOS_SDK-2.2.1软件包,支持512K flash xtensa-lx106-elf linux交叉编译器，只适用于3.0以下的SDK
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[硬件开发] SampleCode32x32dR2.rar

说明：海曼HTPA32X32d官方库开发包，有例程，很方便移植到自已的应用程序里。后期需要二次开发的多沟通。
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[硬件开发] HTPA80x64dR1L10k5_0k95(Hi)S_Rev4_Datasheet（汉化）.pdf

说明：HTPA80x64dR1L10k5_0k95(Hi)S_Rev4_Datasheet（汉化），帮助初学者入门，更方便开发自已的应用程序。
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[硬件开发] TOPSwitch—GX在开关电源中的应用.mht

说明：摘 要 ： TOPSwitch—GX器 件 是 一 种 PWM/MOSFET二 合 一 的 新 型 集 成 芯 片 ， 它 采 用 与 TOPSwitch相 同 的 电 路 ， 扩 展 了 TOPSwitch系 列 的 功 率 范 围 ， 还 集 成 了 多 项 新 功 能 。 介 绍 了 一 种 用 TOP249Y设 计 的 封 闭 式 电 源 ， 使 用 了 TOPSwitch—GX的 线 路 检 测 功 能 和 外 部 限 流 功 能 ， 设 计 新 颖 ， 具 有 一 定 的 实 用
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[硬件开发] UPS逆变器的重复控制器参数的仿真分析.mht

说明：介 绍 了 重 复 控 制 器 的 基 本 原 理 ， 详 述 了 重 复 控 制 器 中 一 个 关 键 参 数 对 系 统 稳 态 误 差 和 收 敛 速 度 的 影 响 ， 总 结 设 计 该 参 数 的 两 个 方 法 。 通 过 仿 真 分 析 ， 解 释 该 参 数 的 不 同 选 择 方 案 引 起 系 统 稳 态 精 度 不 同 的 原 因 ， 提 出 了 一 些 该 参 数 的 改 进 方 法 。
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[硬件开发] WI-IQ006 盐雾实验WI R2.pdf

说明：１：适用于检验电镀产品及相关材料的抗盐雾腐蚀能力． ２：适用于相似防护层的抗盐雾腐蚀能力的工艺质量的比较．
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[硬件开发] 超 高 功 率 整 流 器 短 路 电 流 的 计 算.mht

说明：超高功率整流器短路电流的计算对于其保护设计是必不可少的。本文通过一个实际的电化学工程项目，介绍了该超高功率整流器短路电流的计算方法，其计算值与实测值十分接近，证明了该计算方法的正确性。
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[硬件开发] 程 序 控 制 电 压 源 及 其 电 磁 兼 容 性 设 计.mht

说明：介绍了几种典型的程序控制电压源及其电磁兼容性设计。一些电子仪器设备中，经常需要性能优良的可调整的电压源或电流源，以往大多采用运算放大器来完成。现在，随着集成A/D，D/A转换器精度的提高，已广泛地采用A/D，D/A转换器构成精密的程序控制的电压源或电流源。至于选择何种类型的转换器，输出量是电压还是电流，应根据实际情况决定。另外，转换器所处的系统充满了各种形式的噪声，有噪声必然产生测量误差，有误差必然降低测量精度。电磁干扰是影响测量精度的主要因素，因此，在设计含有转换器的系统时，要采取行之有效的措
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[硬件开发] 串联谐振单相全桥逆变器常用控制方法的研究.mht

说明：讨论了几种常用的串联谐振单相全桥逆变器的功率和频率控制方法，比较了各种方法的优缺点，同时对脉宽加频率调制的方法进行了较深入的讨论。 随着可自关断电力电子器件的发展，串联谐振逆变电路获得越来越多的应用，各种适合于串联谐振逆变电路的控制方法不断出现。本文对常用的调幅控制、脉冲频率调制、脉冲密度调制以及谐振脉冲宽度调制等控制方法进行了讨论和比较。特别对脉宽加频率调制的控制方法进行了较详细的分析。
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[硬件开发] 哈尔滨工业大学 SystemVerilog硬件设计及建模 PPT.rar

说明：哈尔滨工业大学 SystemVerilog硬件设计及建模 PPT, 1 简介 2 声明的位置 3 文本值和数据类型 4 用户自定义和枚举数据类型 5 数组、结构体和联合体 6 过程块、任务和函数 7 过程语句 8 层次化设计 9 接口 10 设计实例：状态机、ATM开关 11 行为级和交易级建模
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[硬件开发] ADC 输入噪音问题.pdf

说明：详细分析ADC的输入噪声问题和解决方案。 In this discussion we have considered the input-referred noise, common to all ADCs. In precision, low-frequency measurement applications, effects of this noise can be reduced by digitally averaging the ADC output data, using
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