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文件大小: 12kb
下载次数: 0
上传时间: 2013-12-03
详细说明： ST的SF流程功能介绍 在Cert流程表中, 各个流程段所做的工作是不同的: 01-03 预处理(可能清除所有FW) 04-0F 伺服测试(包括扫描缺陷轨道) 10-1F 通道优化测试 20-2F 伺服参数调试 30-3E 缺陷扫描,分析,处理 (精确扫描坏扇区并作屏蔽) 40-4E 逻辑方式工作测试 (没有任何修复作用,仅作为出厂前的可*性测试, 只要在任何一个过程发现有错误就认为该硬盘不适宜出厂) 4F-50 失败或成功的最后处理
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