文件名称:
片上系统设计和RochitRajsuman测试.rar
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上传时间: 2019-07-23
详细说明： 从芯片上系统(SoC)的基本概述开始，包括相关术语的定义，这本书帮助您理解SoC设计的挑战，以及最新的设计和测试方法。 您可以看到ASIC技术是如何发展成为一个基于嵌入式内核的概念的，其中包括预先设计的、可重用的知识产权(IP)内核，这些内核充当微处理器、数据存储设备、DSP、总线控制和接口——所有这些都是经过缝制的吗? 一起由用户? 定义逻辑(UDL)。 第一部分讨论了与socket相关的设计难点，包括软硬件协同设计、重用设计和核心设计。 您将获得实际的、真实的设计指导，其中引用了商业企业使用的、SoC社区正在评估的实际产品规范、交付需求和系统集成需求。 第一部分总结了在核心和SoC级别开发测试工作台所需的信息。 第二部分回顾了您 在测试SoC时所面临的挑战，以及克服这些障碍的测试方法。 包括嵌入式逻辑核心、微处理器核心、微控制器核心和大内存块的测试方法，以及嵌入式模拟电路和混合信号电路的测试方法，以及SoC的Iddq测试方法。 您还将获得材料处理、快速装箱和生产流程的概述，以便将您的知识应用到实际的生产过程中。
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