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上传时间: 2020-04-16
详细说明：中能电子束转储实验提供了次级μ子的强烈来源。 这些粒子可用于搜索可解释（g-2）μ异常的介子耦合浅暗标量。 我们将此想法应用于推导新排除限值的SLAC E137实验，并评估了计划中的Jefferson Lab BDX实验的预期灵敏度（如果结果报告为空）。 该计算基于数值模拟，其中包括对堆中次级μ子的产生，暗标量产生，传播和衰减以及最终与检测器相互作用的衰减产物（电子，正电子或光子）相互作用的现实描述。 对于这两个实验，将排除限扩大到标量-μ子耦合与标量质量参数空间中的更宽范围。 这项研究表明，在通常使用质子束进行研究的过程中，电子束转储实验对新物理具有更高的敏感性。
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