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文件名称: 暗物质直接检测中的光介体
  所属分类: 其它
  开发工具:
  文件大小: 777kb
  下载次数: 0
  上传时间: 2020-03-25
  提 供 者: weixin_********
 详细说明:在扩展的有效算子框架中,我们详细研究了光介质对暗物质(DM)-核散射事件谱的影响。 光介体的存在改变了当前实验数据的解释,尤其是DM颗粒质量的确定。 我们通过分析和数值例证表明,通常对于与自旋无关的散射有关的所有算子,当介体颗粒变轻时,给定一组实验数据所允许的DM颗粒质量会显着增加。 例如,在CDMS-II-Si实验的情况下,允许的DM粒子质量在68%(90%)的置信度下可以达到¼50(100)GeV,远大于0Â1 1 GeV在接触相互作用的情况下。 当介体质量低于ðª(10)MeV时,DM颗粒质量的增加达到饱和。 诸如SuperCDMS,CDMSlite,CDEX,XENON10 / 10
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